[实用新型]一种过零检测电路有效
| 申请号： | 201220494439.0 | 申请日： | 2012-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN202837385U | 公开（公告）日： | 2013-03-27 |
| 发明（设计）人： | 秦吉芳;洪浩;王伟峰 | 申请（专利权）人： | 上海微频莱机电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/175 | 分类号： | G01R19/175;G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海海颂知识产权代理事务所(普通合伙) 31258 | 代理人： | 何葆芳 |
| 地址： | 201613 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种过零检测电路，其包括：电阻R7、电阻R8、电阻R9、光耦PC1和内设切断电路单元的MCU，所述电阻R7和电阻R8并联且分别通过光耦PC1的1号和2号接入口接入光耦PC1中，电阻R9通过光耦PC1的4号接入口接入光耦PC1中，MCU的一端子通过光耦PC1的4号接入口接入光耦PC1中，光耦PC1的3号端口接地。本实用新型提供的过零检测电路，不仅能够正确检测输出电压，还能够自行诊断是否有异常，可避免因过零检测电路异常导致整个系统不稳定或安全隐患，具有极强的实用价值，可广泛推广应用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 电路 | ||
【主权项】：
一种过零检测电路，其特征在于，包括：电阻R7、电阻R8、电阻R9、光耦PC1和内设切断电路单元的MCU，所述电阻R7和电阻R8并联且分别通过光耦PC1的1号和2号接入口接入光耦PC1中，电阻R9通过光耦PC1的4号接入口接入光耦PC1中，MCU的一端子通过光耦PC1的4号接入口接入光耦PC1中，光耦PC1的3号端口接地。
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