[实用新型]一种光学元件光谱测量装置有效
| 申请号： | 201220423896.0 | 申请日： | 2012-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN202793742U | 公开（公告）日： | 2013-03-13 |
| 发明（设计）人： | 刘景峰 | 申请（专利权）人： | 北京奇峰蓝达光学科技发展有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京中创阳光知识产权代理有限责任公司 11003 | 代理人： | 尹振启;张显光 |
| 地址： | 100016 北京市朝*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种光学元件光谱测量装置，包括底座，所述底座一侧设置有发出光线的光源，沿光源照射方向设置有色散光线的光栅，在光栅后方设置有放置待测基片的角度架，在角度架后方设置有光谱探测器，所述角度架通过夹具固定样片或待测基片。该装置通过测量样片校正测试基线，在此基础上再更换待测基片进行测量，即可达到光路偏折一致的条件，测得基片的透过率后乘以样片的理论值即可得到准确结果，该理论值是样片在待测基片所镀角度膜层的角度下的理论透过率。该装置角度架的夹具角度可调，能够测试多种带角度膜层的光学元件。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 元件 光谱 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种光学元件光谱测量装置，其特征在于，包括底座，所述底座一侧设置有发出光线的光源，沿光源照射方向设置有色散光线的光栅，在光栅后方设置有放置待测基片的角度架，在角度架后方设置有光谱探测器，所述角度架通过夹具固定样片或待测基片。
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