[发明专利]一种In1-xGaxP(0≤x≤1)/Substrate 薄膜材料的制备方法有效
申请号: | 201210552750.0 | 申请日: | 2012-12-19 |
公开(公告)号: | CN103352214A | 公开(公告)日: | 2013-10-16 |
发明(设计)人: | 刘兴泉;张铭菊 | 申请(专利权)人: | 常州星海电子有限公司 |
主分类号: | C23C20/08 | 分类号: | C23C20/08 |
代理公司: | 常州市维益专利事务所 32211 | 代理人: | 何学成 |
地址: | 213022 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种制备In1-xGaxP(0≤x≤1)/Substrate薄膜材料的方法,以In2O3,Ga2O3,P2O5以及还原萃取剂为原料,加入与固体原料质量50%~100%相当的无水乙醇,用10~15MPa的压力将其压成厚度为1~10mm的片材,然后将其放置于反应器刚玉坩埚中,用高纯氮气抽真空,置换到氧气浓度为ppm级,然后再用混合气体抽真空置换1~2次,抽真空至7~13Pa,控制升温速度在5~10℃/min范围内,反应区加热升温,沉积区加热升温,恒温3~4h,其间保持真空度不小于-0.08MPa;当反应区温度达到预定温度后,自然降温至室温,充入混合气体至常压后,即得到所需薄膜;本发明原料简单,价廉易得,且均为固体或无毒气体,对环境无污染,对操作人员无安全威胁。 | ||
搜索关键词: | 一种 in sub ga substrate 薄膜 材料 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种制备In1‑xGaxP(0≤x≤1)/Substrate薄膜材料的方法,其特征在于:以In2O3,Ga2O3,P2O5以及还原萃取剂为原料,加入与固体原料质量50%~100%相当的无水乙醇,研磨均匀后,用10~15MPa的压力将其压成厚度为1~10mm的片材,然后将其放置于反应器刚玉坩埚中,用高纯氮气抽真空,置换到氧气浓度为ppm级,然后再用混合气体抽真空置换1~2次,抽真空至7~13Pa,控制升温速度在5~10℃/min范围内,反应区加热升温至1200℃~1250℃范围内,沉积区加热升温至600℃~800℃范围内,恒温3~4h,其间保持真空度不小于‑0.08MPa;当反应区温度达到预定温度后,自然降温至室温,充入混合气体至常压后,即得到灰黑色的In1‑xGaxP(0≤x≤1)/Substrate薄膜;所述的Substrate为:Si、Ge、导电玻璃、不锈钢、导电陶瓷中的一种。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C20-00 通过固态覆层化合物抑或覆层形成化合物悬浮液分解且覆层中不留存表面材料反应产物的化学镀覆
C23C20-02 .镀金属材料
C23C20-06 .镀金属材料以外的无机材料
C23C20-08 ..镀化合物、混合物或固溶体,例如硼化物、碳化物、氮化物
C23C20-04 ..镀金属
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