[发明专利]一种In1-xGaxP(0≤x≤1)/Substrate 薄膜材料的制备方法有效

专利信息
申请号: 201210552750.0 申请日: 2012-12-19
公开(公告)号: CN103352214A 公开(公告)日: 2013-10-16
发明(设计)人: 刘兴泉;张铭菊 申请(专利权)人: 常州星海电子有限公司
主分类号: C23C20/08 分类号: C23C20/08
代理公司: 常州市维益专利事务所 32211 代理人: 何学成
地址: 213022 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种制备In1-xGaxP(0≤x≤1)/Substrate薄膜材料的方法,以In2O3,Ga2O3,P2O5以及还原萃取剂为原料,加入与固体原料质量50%~100%相当的无水乙醇,用10~15MPa的压力将其压成厚度为1~10mm的片材,然后将其放置于反应器刚玉坩埚中,用高纯氮气抽真空,置换到氧气浓度为ppm级,然后再用混合气体抽真空置换1~2次,抽真空至7~13Pa,控制升温速度在5~10℃/min范围内,反应区加热升温,沉积区加热升温,恒温3~4h,其间保持真空度不小于-0.08MPa;当反应区温度达到预定温度后,自然降温至室温,充入混合气体至常压后,即得到所需薄膜;本发明原料简单,价廉易得,且均为固体或无毒气体,对环境无污染,对操作人员无安全威胁。
搜索关键词: 一种 in sub ga substrate 薄膜 材料 制备 方法
【主权项】:
一种制备In1‑xGaxP(0≤x≤1)/Substrate薄膜材料的方法,其特征在于:以In2O3,Ga2O3,P2O5以及还原萃取剂为原料,加入与固体原料质量50%~100%相当的无水乙醇,研磨均匀后,用10~15MPa的压力将其压成厚度为1~10mm的片材,然后将其放置于反应器刚玉坩埚中,用高纯氮气抽真空,置换到氧气浓度为ppm级,然后再用混合气体抽真空置换1~2次,抽真空至7~13Pa,控制升温速度在5~10℃/min范围内,反应区加热升温至1200℃~1250℃范围内,沉积区加热升温至600℃~800℃范围内,恒温3~4h,其间保持真空度不小于‑0.08MPa;当反应区温度达到预定温度后,自然降温至室温,充入混合气体至常压后,即得到灰黑色的In1‑xGaxP(0≤x≤1)/Substrate薄膜;所述的Substrate为:Si、Ge、导电玻璃、不锈钢、导电陶瓷中的一种。
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