[发明专利]一种测量匹配层材料声速的方法有效
| 申请号： | 201210485840.2 | 申请日： | 2012-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN102997989A | 公开（公告）日： | 2013-03-27 |
| 发明（设计）人： | 王路阳;周长恩 | 申请（专利权）人： | 沈阳辽海装备有限责任公司 |
| 主分类号： | G01H5/00 | 分类号： | G01H5/00 |
| 代理公司： | 沈阳利泰专利商标代理有限公司 21209 | 代理人： | 刘忠达 |
| 地址： | 110003 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 一种测量匹配层材料声速的方法，包括下述步骤：（1）测量仪器：选用阻抗分析仪。（2）选用厚度伸缩振动模式压电陶瓷圆片，按已知的压电陶瓷材料性能测试方法，测得压电陶瓷圆片的串联谐振频率fs。（3）将待测匹配层材料制成与上述圆形压电陶瓷片直径相同的圆形匹配层；圆形匹配层厚度t的值，是依据步骤2测得的频率fs和对匹配层材料声速的预估值，计算出匹配层材料的波长值入，然后取匹配层厚度＞¼入。（4）将步骤3制好的匹配层与步骤2选用的压电陶瓷片粘接在一起，即为压电振子，采用匹配层材料声速V=fsλ，即可得匹配层材料声速。本发明测量的物理量是电导，因此本测量的方法仪器简单，仅需一台阻抗分析仪，无需其它设备及装置。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 匹配 材料 声速 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测量匹配层材料声速的方法，其特征在于包括下述步骤：（1）、测量仪器：选用阻抗分析仪；（2）、选用厚度伸缩振动模式压电陶瓷圆片，按已知的压电陶瓷材料性能测试方法，测得压电陶瓷圆片的串联谐振频率fs；（3）、将待测匹配层材料制成与上述圆形压电陶瓷片直径相同的圆形匹配层；圆形匹配层厚度t的值，是依据步骤2测得的频率fs和对匹配层材料声速的预估值，计算出匹配层材料的波长值入，然后取匹配层厚度＞入；（4）、将步骤3制好的匹配层与步骤2选用的压电陶瓷片粘接在一起，即为压电振子；（5）、匹配层材料声速测量：用阻抗分析仪测量压电振子的电导曲线，采用磨除方法，逐步减小匹配层厚度t，每一步要测量一次压电振子电导曲线；观察曲线变化，随着厚度t的减小，会逐步出现双峰，再继续减小则双峰会逐步消失，直到t减小至零双峰不再出现；我们把双峰对应的频率分别记为f1、f2，把f1、f2的平均值记为f0；在测量过程中出现双峰时，记录好每一步t、f1、f2数据并计算出f0；当f0等于fs时，所对应的t值就是1/4λ；这样就得到匹配层材料声速V=fsλ。
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