[发明专利]等静压石墨外观参数快速检测系统及检测方法有效
申请号: | 201210471539.6 | 申请日: | 2012-11-20 |
公开(公告)号: | CN102998311A | 公开(公告)日: | 2013-03-27 |
发明(设计)人: | 张庆;杨洪;尹学军;陈垒;陈锐 | 申请(专利权)人: | 雅安恒圣高纯石墨科技有限责任公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;G01B11/00;G01B11/24 |
代理公司: | 成都金英专利代理事务所(普通合伙) 51218 | 代理人: | 袁英 |
地址: | 625008 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种等静压石墨外观参数快速检测系统及检测方法,检测系统包括外观尺寸检测子系统和外观形状及完整度检测子系统,外观尺寸检测子系统包括采集单元和处理单元,光电发射器(8)发出的光线照射到被测等静压石墨(7)上,光电接收器(9)接收通过被测等静压石墨(7)后的光线,通过处理单元处理后得出产品的外观尺寸;外观形状及完整度检测子系统包括旋转机构、CCD移动导轨(11)、CCD探头(10)和图像处理单元(13),CCD探头(10)在被测等静压石墨(7)上以一定频率摄制图像,传送到图像处理单元(13)处理后找出被测等静压石墨(7)的瑕疵。本发明具有检测时间短、数据精准,无粉尘污染,使用简单等优点。 | ||
搜索关键词: | 静压 石墨 外观 参数 快速 检测 系统 方法 | ||
【主权项】:
等静压石墨外观参数快速检测系统,所述的外观参数包括外观尺寸、外观形状及完整度,其特征在于:它包括外观尺寸检测子系统和外观形状及完整度检测子系统,所述的外观尺寸检测子系统包括采集单元和处理单元,所述的采集单元由光发射组件和光接收组件构成,被测等静压石墨(7)置于光发射组件和光接收组件之间,所述的光发射组件包括发射组件可调节端(1)、发射端距离调节机构(2)和发射组件固定端(3),所述的光接收组件包括接收组件可调节端(4)、接收端调节机构(5)和接收组件固定端(6),所述的发射组件可调节端(1)和发射组件固定端(3)内侧安装有光电发射器(8),接收组件可调节端(4)和接收组件固定端(6)内侧安装有光电接收器(9),光电接收器(9)与处理单元相连;所述的外观形状及完整度检测子系统包括旋转机构、CCD移动导轨(11)、CCD探头(10)和图像处理单元(13),被测等静压石墨(7)放置于旋转机构上,CCD移动导轨(11)安装在旋转机构上方,CCD探头(10)安装在CCD移动导轨(11)上,CCD探头(10)与图像处理单元(13)连接,所述的旋转机构包括承载轮(12)和伺服机构,伺服机构分别与CCD移动导轨(11)和承载轮(12)连接。
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