[发明专利]一种LED性能测试箱、标定方法及性能测试方法有效
| 申请号： | 201210471470.7 | 申请日： | 2012-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN102967446A | 公开（公告）日： | 2013-03-13 |
| 发明（设计）人： | 胡益民;刘岩;敬刚;张志甜;杨永刚;张超;朱惠忠;刘文斌;李永光;汤皎宁;曹广忠;高文杰;袁文龙;梁荣;陆兆隆 | 申请（专利权）人： | 深圳清华大学研究院 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01R31/26 |
| 代理公司： | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人： | 江耀纯 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区高*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种LED性能测试箱、标定方法及性能测试方法，测试箱包括箱体和取光装置，还包括第一电机、第二电机、转轴、光纤和连接件，箱体上设有通孔，转轴和光纤穿过通孔，取光装置设置在箱体内部，设置在箱体外部的第一电机驱动转轴转动，连接件固定在转轴处于箱体内的一端，第二电机固定在连接件上，第二电机驱动取光装置靠近或远离转轴，光纤的第一端与取光装置连接、且第二端在箱体外。本发明的LED性能测试箱结构简单、操作简便、可以在线检测LED性能参数。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 led 性能 测试 标定 方法 | ||
【主权项】：
一种LED性能测试箱，包括箱体和取光装置，其特征是：还包括第一电机、第二电机、转轴、光纤和连接件，所述箱体上设有通孔，所述转轴和光纤穿过所述通孔，所述取光装置设置在所述箱体内部，设置在所述箱体外部的所述第一电机驱动所述转轴转动，所述连接件固定在所述转轴处于所述箱体内的一端，所述第二电机固定在所述连接件上，所述第二电机驱动所述取光装置靠近或远离所述转轴，所述光纤的第一端与所述取光装置连接、且第二端在所述箱体外。
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