[发明专利]一种可靠性预计算法

摘要

本发明公开了一种可靠性预计算法，包括以下步骤：分别计算器件单粒子效应SEE、总剂量效应TID和位移损伤效应DD引起的失效率λ_SEE、λ_TID和λ_DD；根据公式λ_space=λ_TID+λ_DD+λ_SEE计算空间辐射环境引起的失效率λ_space；根据公式λ=λ_NOspace+λ_space计算器件的总失效率λ，其中λ_NOspace是非空间辐射环境引起的失效率。本发明考虑了辐射应力响应，可用于航空航天辐射敏感元器件的可靠性预计；与基于常数失效率假设的可靠性预计方法相比，本发明算法的预计结果更加准确。

主权项

一种可靠性预计算法，其特征在于，包括以下步骤：S1、分别计算器件单粒子效应SEE、总剂量效应TID和位移损伤效应DD引起的失效率λ_SEE、λ_TID和λ_DD；S2、根据公式λ_space＝λ_TID+λ_DD+λ_SEE计算空间辐射环境引起的失效率λ_space；S3、根据公式λ＝λ_NOspace+λ_space计算器件的总失效率λ，其中λ_NOspace是非空间辐射环境引起的失效率；所述总剂量效应TID引起的失效率λ_TID通过以下公式计算：${\mathrm{\λ}}_{TID}=-\frac{1}{T}ln\{1-\mathrm{\Φ}\[\frac{ln\left(R_{specTID}\right(T\left)\right)-{\mathrm{\μ}}_{TID-RDM}}{{\mathrm{\σ}}_{TID-RDM}}\]\}$其中，T是工作周期；Φ是标准正态分布的分布函数；R_specTID(T)是从工作开始0时刻到T时刻器件累积的电离辐射总剂量；μ_TID‑RDM是对数正态分布尺度因子，μ_TID‑RDM＝ln(R_MF‑TID)，其中n是试验样品数，R_TIDFAIL‑i是第i只样品失效时累积的电离辐射剂量；σ_TID‑RDM是对数正态分布形状因子，