[发明专利]一种基于光延迟技术的介质折射率测量装置及其测量方法

摘要

本发明公开了一种基于光延迟技术的介质折射率测量装置及其测量方法，涉及光电技术领域，包括信号处理与控制模块、光发射模块和光接收模块；光发射模块经信号处理与控制模块控制发出某一确定波长的光信号，注入被测介质，光信号在被测介质内传输产生延迟，光接收模块接收延迟后的光信号，并将延迟后的光信号转换成电信号并放大后传输至信号处理与控制模块，信号处理与控制模块测量发射光信号和接收光信号的延迟时间，利用已知的被测介质长度，即可计算得到被测介质在某一确定波长的折射率。本发明回避了测量反射角或折射角获取折射率的复杂方法，采用测量光信号在介质中的传输延迟来得到折射率，降低了系统的复杂度，提高了效率，便于推广运用。

主权项

一种基于光延迟技术的介质折射率测量装置，其特征在于，包括信号处理与控制模块、光发射模块和光接收模块；所述信号处理与控制模块控制光发射模块发出某一确定波长的光信号，所述光信号注入被测介质，光信号在被测介质内传输产生延迟，延迟后的光信号传输至光接收模块，所述光接收模块将延迟后的光信号转换成电信号并放大后传输至信号处理与控制模块，信号处理与控制模块测量发射光信号和接收光信号的延迟时间，利用已知的被测介质长度，计算得到被测介质在某一确定波长的折射率。