[发明专利]非晶态碲镉汞/晶态硅异质结红外探测器及其制造方法无效

专利信息
申请号: 201210405847.9 申请日: 2012-10-23
公开(公告)号: CN102903783A 公开(公告)日: 2013-01-30
发明(设计)人: 史衍丽;余连杰;何雯瑾;邓功荣;李雄军;杨丽丽;姬荣斌 申请(专利权)人: 昆明物理研究所
主分类号: H01L31/109 分类号: H01L31/109;H01L31/0376;H01L31/20
代理公司: 昆明今威专利商标代理有限公司 53115 代理人: 赛晓刚
地址: 650223 云*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 非晶态碲镉汞/晶态硅异质结红外探测器,其特征在于由晶态硅基底、非晶态碲镉汞、金属第一电极和金属第二电极组成,其中,非晶态碲镉汞与晶态硅基底构成异质结,金属第一电极与非晶态碲镉汞连接,金属第二电极与晶态硅基底连接。其制备工艺步骤为衬底清洗、制备非晶态碲镉汞薄膜、光敏面成型、金属电极制备和封装测试;或者为衬底清洗、金属第二电极制备、制备非晶态碲镉汞薄膜、光敏面成型、金属第一电极制备和封装测试。本发明中的非晶态半导体材料对衬底无选择性,组成异质结的材料之间的晶格匹配性能较好,并具有显著的光电响应。该探测器的最佳工作温度在近室温,利用两级半导体制冷即可,降低了红外探测器组件的重量、功耗及制作成本。
搜索关键词: 晶态 碲镉汞 硅异质结 红外探测器 及其 制造 方法
【主权项】:
非晶态碲镉汞/晶态硅异质结红外探测器,其特征在于:由晶态硅基底⑴、非晶态碲镉汞⑵、金属第一电极⑶和金属第二电极⑷组成,其中,非晶态碲镉汞与晶态硅基底构成异质结,金属第一电极与非晶态碲镉汞连接,金属第二电极与晶态硅基底连接。
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