[发明专利]一种荧光分析方法和装置在审

专利信息
申请号: 201210378343.2 申请日: 2012-09-29
公开(公告)号: CN103712963A 公开(公告)日: 2014-04-09
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 庞磊
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 上海一平知识产权代理有限公司 31266 代理人: 祝莲君;雷芳
地址: 200051 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种荧光分析方法和装置,具体地,本发明公开了一种用于定量检测样品中的待测物的渗漏检测装置,所述装置包括(1)包含检测区的多孔膜和(2)位于多孔膜下方的吸收垫。本发明还公开了一种基于所述渗漏检测装置的定量检测待测物的检测方法和一种基于所述检测方法的检测装置。
搜索关键词: 一种 荧光 分析 方法 装置
【主权项】:
一种渗漏检测装置,其特征在于,该渗漏检测装置包括:(a1)包含检测区的多孔膜,其中,所述的检测区包含固定化捕获剂,并且所述固定化捕获剂能同时与可流动的荧光物质和可流动的第一结合剂结合,从而形成“荧光物质-捕获剂-第一结合剂”复合物;所述第一结合剂可与待测物结合,且所述待测物能与第二结合剂结合,从而形成“第一结合剂-待测物-第二结合剂”复合物;从而当检测区接触所述的荧光物质、第一结合剂、待测物和第二结合剂后,在检测区形成“荧光物质-捕获剂-第一结合剂-待测物-第二结合剂”复合物,其中,所述的第二结合剂被吸光物质标记,且所述吸光物质影响所述荧光物质的荧光强度;(a2)位于多孔膜下方的吸收垫,所述吸收垫具有吸收能力,使得加至检测区的样品和液体透过多孔膜并被吸收垫吸收。
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