[发明专利]一种OLED基板的测试方法和装置有效
| 申请号： | 201210331650.5 | 申请日： | 2012-09-07 |
| 公开（公告）号： | CN102831851A | 公开（公告）日： | 2012-12-19 |
| 发明（设计）人： | 梁逸南 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种OLED基板的测试装置和测试方法，能够缩短该OLED基板的测试周期，降低测试成本。该装置包括信号加载基板和信号源；所述信号加载基板包括：信号线接入模块，用于分别与所述OLED基板的数据线、扫描线、电源线和阴极线相连接；测试信号接入模块，用于与外部信号源相连接，通过所述信号线接入模块分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号；所述信号源，用于与所述信号加载基板的测试信号接入模块相连接，通过所述信号加载基板分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号。本发明实施例适用于OLED基板的制造领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 oled 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种OLED基板的测试装置，其特征在于，包括信号加载基板和信号源；所述信号加载基板包括：信号线接入模块，用于分别与所述OLED基板的数据线、扫描线、电源线和阴极线相连接；测试信号接入模块，用于与外部信号源相连接，通过所述信号线接入模块分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号；所述信号源，用于与所述信号加载基板的测试信号接入模块相连接，通过所述信号加载基板分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号。
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