[发明专利]一种OLED基板的测试方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及OLED显示技术领域，尤其涉及一种OLED基板的测试方法和装置。

背景技术

采用OLED(Organic Light-Emitting Diode，有机发光二极管)的有机电致发光显示器是一种新兴的平板显示器件，由于其制备工艺简单、成本低、响应速度快、易于实现彩色显示等优点，得到了广泛应用。进而，随着薄膜晶体管的制程技术以及OLED的材料性能的不断改善，OLED也越来越普及。

为了减少产品出厂前的不良率，对OLED基板的测试是不可缺少。现有技术中，为了对OLED基板进行测试，首先需要对OLED基板进行蒸镀，然后绑定驱动电路，通过该驱动电路逐行扫描基板的像素单元，并驱动像素单元依次点亮OLED，依次来检查该OLED是否存在缺陷。然而采用这种方式，当OLED无法点亮时，一方面无法明确判断是像素单元的缺陷还是驱动电路的缺陷，另一方面该测试方法制作周期较长，测试工艺复杂，成本较高。

发明内容

本发明的实施例提供一种OLED基板的测试方法和装置，能够缩短OLED基板的测试时间、降低测试成本，且测试工艺简单。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

一方面，本发明实施例提供了一种OLED基板的测试装置，包括信号加载基板和信号源；

所述信号加载基板包括：

信号线接入模块，用于分别与所述OLED基板的数据线、扫描线、电源线和阴极线相连接；

测试信号接入模块，用于与外部信号源相连接，通过所述信号线接入模块分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号；

所述信号源，用于与所述信号加载基板的测试信号接入模块相连接，通过所述信号加载基板分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号。

可选的，向所述扫描线提供测试信号的信号源包括环形接入区和扫描探针，所述环行接入区的每个接入点分别与一条扫描线相连接，所述扫描探针上加载有对扫描线进行测试的电压，所述信号源通过所述扫描探针依次与所述环形接入区的接入点相连接，逐行的向每条扫描线提供测试信号。

可选的，向所述扫描线提供测试信号的信号源为包括移位寄存器的信号源，所述信号源通过所述移位寄存器逐行的向每条扫描线提供测试信号。

可选的，所述信号源通过所述信号加载基板分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供的信号具体为：向所述电源线提供电源电压，向所述阴极线提供接地电压，向所述数据线提供驱动电压，向所述扫描线提供开启电压。

另一方面，本发明实施例提供了一种OLED基板的测试方法，所述方法采用测试装置对所述OLED基板进行测试，所述测试装置包括信号加载基板和信号源，所述信号加载基板包括信号线接入模块和测试信号接入模块，该方法包括：

分别将所述OLED基板的数据线、扫描线、电源线和阴极线与所述信号线接入模块相连接；

通过所述信号线接入模块分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号，所述信号线接入模块与所述信号源连接，所述信号源与所述信号加载基板的测试信号接入模块相连接，通过所述信号加载基板分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号。

可选的，通过所述信号加载基板向所述扫描线提供测试信号的信号源包括：环形接入区和扫描探针，所述环行接入区的每个接入点分别与一条扫描线相连接，所述扫描探针上加载有对扫描线进行测试的电压；

所述信号源通过所述扫描探针依次与所述环形接入区的接入点相连接，逐行的向每条扫描线提供测试信号。

可选的，通过所述信号加载基板向所述扫描线提供测试信号的信号源为包括移位寄存器的信号源；

所述信号源通过所述移位寄存器逐行的向每条扫描线提供测试信号。

可选的，通过所述信号加载基板分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号具体为：

向所述电源线提供电源电压，向所述阴极线提供接地电压，向所述数据线提供驱动电压，向所述扫描线提供开启电压。