[发明专利]带电粒子束或团可移动时间切片三维成像探测方法及装置无效
申请号: | 201210224944.8 | 申请日: | 2012-06-29 |
公开(公告)号: | CN103513265A | 公开(公告)日: | 2014-01-15 |
发明(设计)人: | 刘金波;郭敬为;孟庆琨;金玉奇 | 申请(专利权)人: | 中国科学院大连化学物理研究所 |
主分类号: | G01T1/29 | 分类号: | G01T1/29 |
代理公司: | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人: | 马驰 |
地址: | 116023 *** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明是一种针对带电粒子束发生和应用领域真空设备中带电粒子束(团)的三维空间结构成像探测方法。该方法采用微通道板(MCP)和荧光屏组成成像探测单元,通过步进电机控制成像探测单元在带电粒子束的飞行路线上前后移动,通过记录一定时间内到达成像探测器前表面的带电粒子数量及其二维分布情况,实现对带电粒子束截面的成像探测。通过在MCP上加直流脉冲电压,可以得到带电粒子束的时间切片成像,获得短时间(最短可至10ns级)内的带电粒子变化情况;通过对切片图像的还原重构,可以获得带电粒子束(团)的三维空间结构。 | ||
搜索关键词: | 带电 粒子束 移动 时间 切片 三维 成像 探测 方法 装置 | ||
【主权项】:
带电粒子束或团可移动时间切片三维成像探测方法,其特征是将平行放置的平板状MCP和荧光屏组成的成像型探测器放置在带电粒子束或团的飞行路线上,MCP端面与带电粒子束或团的飞行方向垂直;于MCP上施加直流脉冲电压,带电粒子束或团在荧光屏上切片成像,通过沿带电粒子束或团的飞行方向移动探测器,实现对带电粒子束或团的三维探测。
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