[发明专利]塞贝克系数测量系统有效

专利信息
申请号: 201210213904.3 申请日: 2012-06-25
公开(公告)号: CN103512914A 公开(公告)日: 2014-01-15
发明(设计)人: 崔大付;蔡浩原;李亚亭;陈兴;张璐璐;孙建海;任艳飞 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: G01N25/20 分类号: G01N25/20
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 宋焰琴
地址: 100080 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种赛贝克系数测量系统,包括:测试样品平台,用于放置待测样品,并在待测样品两端建立预设的温度差,包括:温差加热台,包括温差加热台本体、热端加热柱和冷端加热柱,其中,热端加热柱和冷端加热柱位于温差加热台本体上,两者之间彼此绝热,分别具有各自的加热系统;热端样品放置台和冷端样品放置台,分别位于热端加热柱和冷端加热柱的上方,用于放置待测样品的热端和冷端;信号采集和处理系统,用来计算贝塞尔系数;温度控制系统,用来控制待测样品两端的温度差。本发明的赛贝克系数测量系统可以实现样品的正负温差测量。
搜索关键词: 贝克 系数 测量 系统
【主权项】:
一种赛贝克系数测量系统,包括:测试样品平台,用于放置待测样品,并在所述待测样品两端建立预设的温度差,包括:温差加热台,包括温差加热台本体、热端加热柱和冷端加热柱,其中,所述热端加热柱和所述冷端加热柱位于所述温差加热台本体上,两者之间彼此绝热,分别具有各自的加热系统;热端样品放置台和冷端样品放置台,分别位于所述热端加热柱和冷端加热柱的上方,用于放置所述待测样品的热端和冷端;信号采集和处理系统,与所述测试样品平台中热端样品放置台和冷端样品放置台的外引线相连接,用来采集和处理待测样品两端的温度及形成的塞贝克电压,计算贝塞尔系数;温度控制系统,分别连接于所述测试样品平台中热端加热柱和冷端加热柱的加热系统,用来控制待测样品两端的温度差。
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