[发明专利]成膜方法和成膜装置有效

专利信息
申请号: 201210199232.5 申请日: 2012-06-14
公开(公告)号: CN102828163A 公开(公告)日: 2012-12-19
发明(设计)人: 铃木启介;门永健太郎;森良孝 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: C23C16/34 分类号: C23C16/34;C23C16/36;C23C16/455;H01L21/205
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 苗堃;金世煜
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及成膜方法和成膜装置。该成膜方法是向收纳被处理体W且可抽真空的处理容器内供给含硼气体、氮化气体、硅烷系气体和烃气体,在被处理体的表面上形成含有硼、氮、硅和碳的薄膜的成膜方法,具有:第1工序,进行1次以上交替间歇地供给含硼气体和氮化气体的循环而形成BN膜;第2工序,进行1次以上间歇地供给硅烷系气体、烃气体和氮化气体的循环而形成SiCN膜。由此,形成实现了低介电常数化、湿式蚀刻耐性的提高以及漏电流减少化的含硼、氮、硅和碳的薄膜。
搜索关键词: 方法 装置
【主权项】:
一种成膜方法,其特征在于,是向收纳被处理体且可抽真空的处理容器内供给含硼气体、氮化气体、硅烷系气体和烃气体,在所述被处理体的表面形成含有硼、氮、硅和碳的薄膜的成膜方法,具有:第1工序,进行1次以上交替间歇地供给所述含硼气体和所述氮化气体的循环而形成BN膜,和第2工序,进行1次以上间歇地供给所述硅烷系气体、所述烃气体和所述氮化气体的循环而形成SiCN膜。
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