[发明专利]用于倒装芯片清洗的方法与装置有效

专利信息
申请号: 201210189044.4 申请日: 2012-06-08
公开(公告)号: CN103464401B 公开(公告)日: 2017-12-19
发明(设计)人: 张晓燕;陈福平;王晖 申请(专利权)人: 盛美半导体设备(上海)有限公司
主分类号: B08B3/02 分类号: B08B3/02;B08B3/12
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司31100 代理人: 陆勍
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 揭示了一种用于清洗倒装芯片的装置,该设备包括一个卡盘装置;一个与卡盘通过转轴连接在一起的马达;至少一个载体装载倒装芯片;至少一个喷嘴用于喷射去离子水,一种清洗溶液,一种气体或者蒸汽。本发明进一步提供了一种清洗倒装芯片装置的方法,该方法包括在倒装芯片载体中装载至少一个倒装芯片;以一种旋转速度来转动卡盘装置;在卡盘装置上的倒装芯片载体中装载至少一个倒装芯片,以一种旋转速度来转动卡盘装置;使用一种液体(去离子水,一种清洗液,等等)来去除污染物;将超声/兆声作用于倒装芯片;通过喷嘴喷射一种气体或一种蒸汽来干燥倒装芯片;将倒装芯片取出倒装芯片载体。
搜索关键词: 用于 倒装 芯片 清洗 方法 装置
【主权项】:
一倒装芯片清洗装置,包括:一卡盘装置;一与卡盘通过转轴连接在一起的马达;至少一个载体装载倒装芯片,每个载体上装载一个倒装芯片;至少一个喷嘴用于喷射去离子水、清洗溶液、气体或者蒸汽;在清洗工艺中改变所述卡盘的转速,其中一低转速和一高转速被交替使用;所述低转速Nl的范围为小于所述高转速Nl的范围为大于其中B表示的是倒装芯片的长度,A表示的是倒装芯片的宽度,r表示的是安装在卡盘装置上的倒装芯片载体到卡盘中心的距离,h表示的是两个芯片焊盘的间距,t表示的是卡盘旋转时间,ρ表示的是液体密度,σ表示的是表面张力系数。
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