[发明专利]集成电路转换延迟测试向量精简方法

摘要

本发明公开了一种集成电路转换延迟测试向量精简方法，所述算法包括：结构分析算法、故障点可测试影响锥生成算法、基于故障点可测试影响锥的测试向量精简算法，所述影响锥，是指检测某一故障点，所需要确定PPIs和PIs的最小集合，所述结构分析算法，是指通过电路预设门的后继门和门电位计算影响锥，所述故障点可测试影响锥生成算法，是指通过结构分析算法计算故障点影响锥的方法，本发明能够有效精简测试向量的个数，降低集成电路芯片的测试时间，提高测试效率。

主权项

集成电路转换延迟测试向量精简方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：电路故障点预处理；步骤1.1：从转换故障点集合中依次提取故障点标记为f，生成故障点f的影响锥，同时从转换故障点集合中删除该故障点f；步骤1.2：若转换故障点集合非空，提取下一个故障点，重复执行步骤1.1，直至转换故障点集合为空；步骤2：从转换故障点集合中找出与故障点f有最小重合的一个或者多个故障点，把这些故障点加入到空集合ST中；步骤3：从集合ST中提取故障点h，判断故障点h的影响锥是否与故障点f的影响锥重合，如果未有重合，故障点h可以被压缩；如果重合，改用故障点可测试影响锥生成算法计算可测试影响锥，如果计算结果未重合，说明故障点h同样可以被压缩，对故障点h进行测试向量压缩。