[发明专利]集成电路转换延迟测试向量精简方法

权利要求书

1.集成电路转换延迟测试向量精简方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1：电路故障点预处理；

步骤1.1：从转换故障点集合中依次提取故障点标记为f，生成故障点f的影响锥，同时从转换故障点集合中删除该故障点f；

步骤1.2：若转换故障点集合非空，提取下一个故障点，重复执行步骤1.1，直至转换故障点集合为空；

步骤2：从转换故障点集合中找出与故障点f有最小重合的一个或者多个故障点，把这些故障点加入到空集合ST中；

步骤3：从集合ST中提取故障点h，判断故障点h的影响锥是否与故障点f的影响锥重合，如果未有重合，故障点h可以被压缩；如果重合，改用故障点可测试影响锥生成算法计算可测试影响锥，如果计算结果未重合，说明故障点h同样可以被压缩，对故障点h进行测试向量压缩。

2.根据权利要求1所述测试向量精简方法，其特征在于，步骤1所述故障点f的影响锥结构分析算法生成过程如下：

执行对电路的结构分析，计算影响锥，影响锥是指电路中设置某一门为特定值，所需要确定PPIs和PIs的最小集合，所述PPIs指第一帧电路和第二帧电路输入端无关联的门，PIs指电路输入门中除去PPIs的门，计算过程如下：

步骤1.1.1：从门L为起点开始以门为单位扫描整个集成电路，RC_i(PI)＝{PI}，RC_i(PPI)＝{PPI}；i是(0，1)的集合，代表逻辑值；

步骤1.1.2：根据门L的类型和故障点类型，分别做如下计算：

若L为AND门输出，

RC₁(L)＝RC₁(A)∪RC₁(B)

RC0(L)=RC0(A)if|RC0(A)|≤|RC0(B)|RC0(B)if|RC0(A)|>|RC0(B)|]]>

若L为OR门输出，

RC₀(L)＝RC₀(A)∪RC₀(B)

RC1(L)=RC1(A)if|RC1(A)|≤|RC1(B)|RC1(B)if|RC1(A)|>|RC1(B)|]]>

若L为XOR门输出，预先定义P₁，P₂，P₃，P₄公式如下，单个值没有真实意义，

P₁＝|RC₁(A)∪RC₀(B)|

P₂＝|RC₁(B)∪RC₀(A)|

P₃＝|RC₁(A)∪RC₁(B)|

P₄＝|RC₀(A)∪RC₀(B)|

RC1(L)=RC1(A)∪RC0(B)ifP1≤P2RC1(B)∪RC0(A)]]>

RC0(L)=RC0(A)∪RC0(B)ifP4≤P3RC1(B)∪RC1(A)]]>

若L为扇出源，分支为：B₁，B₂，B₃，...，B_k，RC_i(B_j)＝RC_i(L)；

所述B_j表示扇出源的扇出分支门，j表示扇出门的编号{1，2，3...，k}；

本步骤中所述RC_i(X)指X门输出置为i，即所需要确定PPIs和PIs的最小集合；

步骤1.1.3：重复步骤1.1.2，直到出现PPIs或PIs终止，记录所需要确定PPIs和PIs的最小集合。