[发明专利]驱动装置的测试方法及电路测试接口有效
| 申请号： | 201210171693.1 | 申请日： | 2012-05-29 |
| 公开（公告）号： | CN103135048A | 公开（公告）日： | 2013-06-05 |
| 发明（设计）人： | 布莱特·戴尔;奥利弗·凯尔 | 申请（专利权）人： | 南亚科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 臧建明 |
| 地址： | 中国台湾桃园县龟山*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种驱动装置的测试方法及电路测试接口，其中的电路测试接口包括测试电流传输焊垫、测试电压测量焊垫、至少一驱动电路以及至少一开关模块。驱动电路的输出端耦接至通硅晶穿孔(Through-Silicon Via，TSV)。开关模块则耦接在驱动电路的输出端、测试电流传输焊垫以及测试电压测量焊垫。开关模块依据测试致能信号以导通或断开测试电流传输焊垫、测试电压测量焊垫与驱动电路的输出端的连接路径。 | ||
| 搜索关键词： | 驱动 装置 测试 方法 电路 接口 | ||
【主权项】：
一种电路测试接口，其特征在于，包括：测试电流传输焊垫；测试电压测量焊垫；至少一驱动电路，具有输出端，其中该至少一驱动电路的输出端耦接至一通硅晶穿孔(Through‑Silicon Via，TSV)；以及至少一开关模块，耦接至(1)该驱动电路的输出端、(2)该测试电流传输焊垫以及(3)该测试电压测量焊垫。
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