[发明专利]芯片测试装置及检测方法无效

专利信息
申请号: 201210152340.7 申请日: 2012-05-16
公开(公告)号: CN103424682A 公开(公告)日: 2013-12-04
发明(设计)人: 张丞中 申请(专利权)人: 欣岩企业有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 代理人: 孙皓晨;李涵
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明有关一种芯片测试装置及检测方法,所述测试装置的电能检测治具,利用测试台座侧边的运送机台,将预设芯片多个极脚分别插设、定位于测试台座的多个检测插孔,并通过检验机组对预设芯片各极脚进行电性测试,再将测试后多个极脚形成通路的预设芯片的良品,由运送机台予以运送至功能检测治具的检测基座,而利用检测基座的检测电路板进行预设芯片执行功能测试,并通过显示卡连接预设屏幕以显示检测结果,达到对预设芯片的电性及运作功能进行同步检测的目的,以提高预设芯片的使用良率,并保持良好的执行、运作功能。
搜索关键词: 芯片 测试 装置 检测 方法
【主权项】:
一种芯片测试装置,其特征在于,是包括电能检测治具、功能检测治具,其中:所述电能检测治具是设有供预设芯片定位的测试台座,且相邻测试台座侧边设有运送预设芯片的运送机台,并于测试台座内设有供预设芯片的多个极脚分别插设的多个检测插孔,而多个检测插孔是分别电性连设于对预设芯片各极脚进行电性测试的检验机组;所述功能检测治具是设置于电能检测治具侧边,设有承接运送机台运送的预设芯片的检测基座,而检测基座是电性连设于进行预设芯片执行功能测试的检测电路板,并于检测电路板设有供连接预设屏幕以显示检测结果的显示卡。
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