[发明专利]集成于集成电路的后端结构的电阻型存储器及其制备方法有效
申请号: | 201210141482.3 | 申请日: | 2012-05-08 |
公开(公告)号: | CN103390628A | 公开(公告)日: | 2013-11-13 |
发明(设计)人: | 林殷茵;刘易;杨玲明 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | H01L27/24 | 分类号: | H01L27/24;H01L45/00 |
代理公司: | 上海元一成知识产权代理事务所(普通合伙) 31268 | 代理人: | 吴桂琴 |
地址: | 200433 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供集成于集成电路的后端结构的电阻型存储器及其制备方法,属于存储器技术领域。该电阻型存储器集成在后端结构中,对用于形成垂直电极的通孔,通孔周围的介质层被部分地水平横向刻蚀以形成一个或多个水平沟槽,水平沟槽被用来定义形成存储功能层,并且在所述水平沟槽中依次形成用于形成双向二极管的金属内电极、半导体层、金属水平电极。该电阻型存储器实现了三维的堆叠排列、密度高、制备效率高、成本低、功耗低,并且可以适用于双极性电阻型存储器。 | ||
搜索关键词: | 集成 集成电路 后端 结构 电阻 存储器 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种电阻型存储器,其特征在于,所述电阻型存储器集成于集成电路的后端结构中,其包括:形成于所述后端结构的通孔中的垂直电极;位于所述垂直电极和用于形成所述通孔的介质层之间的扩散阻挡层,所述介质层被部分地水平横向刻蚀以形成部分地暴露所述扩散阻挡层的水平沟槽;通过对暴露的所述扩散阻挡层氧化形成的存储功能层;以及在所述水平沟槽中依次形成的金属内电极、半导体层、金属水平电极;其中,所述金属内电极、半导体层和金属水平电极用于形成基于金属‑半导体‑金属结构的双向二极管。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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