[发明专利]采用光谱修正的逆反射系数测量方法

摘要

本发明公开了一种采用光谱修正的逆反射系数测量方法，使用逆反射系数测量装置来测量，该方法包括：先调整测量装置，通过光谱测量仪（302）测试得到反射光的相对辐射强度光谱分布，使用软件对人眼明视觉函数V（λ）修正，获得反射光在一定几何测试角度下的相对发光强度光谱分布，将所述光谱测量仪（302）的标定系数输入到控制/处理模块（5），将待测试样品放在样品载台（201）上的指定位置，按照不同的测试几何条件进行测试并通过标定系数修正，得到待测材料的逆反射系数，本发明通过通过标准反射板对光谱修正，大大地减少了系统不确定度分量，提高了逆反射材料逆反射系数测量的精确度和稳定性。

主权项

一种采用光谱修正的逆反射系数测量方法，使用逆反射系数测量装置，其特征在于，所述方法包括：S1，将一标准反射板（4）固定到样品载台（201）上，开启测量装置，调整光路系统的几何条件符合所述标准反射板（4）的赋值要求；S2，在光源（101）稳定输出预置发光强度的情况下，通过光谱测量仪（302）测试得到所述标准反射板（4）反射光的相对辐射强度光谱分布；S3，使用软件对人眼明视觉函数V（λ）修正，获得所述标准反射板（4）反射光在一定几何测试角度下的相对发光强度光谱分布；将所述光源（101）预置输出发光强度和所述标准反射板（4）反射率之积代入归一化发光强度光谱分布，得到所述标准反射板（4）反射光发光强度光谱的绝对强度，所述标准反射板（4）绝对强度与相对强度的反射光谱波长积分之比为所述光谱测量仪（302）的标定系数；S4，将所述光谱测量仪（302）的标定系数输入到控制/处理模块（5），将待测试样品放在所述样品载台（201）上的指定位置，按照不同的测试几何条件进行测试并通过标定系数修正，按照光阑限定的立体角度计算得到反射光的发光强度，代入公式（1）得到相应几何条件下的逆反射系数， R A = I · E ⊥ A - - - ( 1 ) , 其中，RA：样品的逆反射系数，cd·lx‑1·m‑2；I：样品反射到光探测器的发光强度，cd；E⊥：光源投射到样品中心的垂直照度，lx；A：样品有效受光面积，m2。