[发明专利]一种多子孔径自聚焦方法有效

专利信息
申请号: 201210132639.6 申请日: 2012-04-28
公开(公告)号: CN102721964A 公开(公告)日: 2012-10-10
发明(设计)人: 朱岱寅;蒋锐;毛新华 申请(专利权)人: 南京航空航天大学
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 许方
地址: 210016 江*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种多子孔径自聚焦方法,属于雷达成像的技术领域。所述多子孔径自聚焦方法将待处理SAR图像分子孔径成像后,计算子图像的补偿相位函数的一阶导数;利用多子孔径相关算法计算方位向偏移量和距离向偏移量;在完成距离徙动矫正后拼接补偿相位函数的一阶导数;进而积分求得补偿相位函数,将图像函数在方位数据域内与补偿相位函数共轭相乘,完成图像的相位补偿。本发明避免了在全孔径自聚焦时高阶相位误差对算法性能的影响;提高了补偿相位一阶导数的拼接精度,改善了聚束式SAR图像的聚焦质量。
搜索关键词: 一种 孔径 自聚焦 方法
【主权项】:
1.一种多子孔径自聚焦方法,其特征在于包括如下步骤:步骤1,对待处理聚束式合成孔径雷达图像分子孔径成像,得到p个子图像,p为正整数;步骤2,在各个子孔径内采用相位梯度自聚焦算法对各个子图像进行自聚焦处理得到各个子图像补偿相位函数一阶导数的表达式:其中:脉冲位置m∈[0,M-1],M为全孔径脉冲长度,1≤i≤p,为相位误差梯度值的理论值,Δ1i是线性相位影响分量,εi(m)是相位估计误差值,recti(.)是矩形窗函数;步骤3,利用子孔径相关算法得到各子图像的方位向偏移量和距离向偏移量,拼接补偿相位函数的一阶导数,具体实施如下:步骤3-1,根据距离向偏移量平移每副子图像完成距离徙动矫正;步骤3-2,利用如下表达式得到线性相位差Δi,j构建线性相位差估计矩阵Δ=Δ1,2,Δ1,3Δ1,4,...,Δ1,pΔ2,3,Δ2,4,...,Δ2,pΔi,j,...,Δi,p......Δp-1,p,]]>其中:1≤i<j≤p,Na为子孔径长度,δi,j为第i幅子图像与第j幅子图像方位向偏移量;步骤3-3,根据表达式δ=HΔ得到方位向偏移量矩阵δ,H为系数矩阵;步骤3-4,拼接子孔径相位误差函数得到补偿相位函数的一阶导数修正向量Δ^MD:Δ^MD=(HTH)-1HTδ,]]>步骤3-5,用补偿相位函数的一阶导数修正量修正步骤2所得相位误差函数表达式中的线性相位影响分量Δ1i,得到修正后的子图像补偿相位函数一阶导数表达式:步骤4,对步骤3修正后的子图像补偿相位函数的一阶导数积分得到补偿相位函数,在图像的方位数据域中,将补偿相位函数与图像函数共轭相乘,完成聚束式合成孔径雷达图像的相位补偿。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京航空航天大学,未经南京航空航天大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210132639.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top