[发明专利]静电释放保护结构及其制造方法有效
申请号: | 201210130387.3 | 申请日: | 2012-04-28 |
公开(公告)号: | CN103378087A | 公开(公告)日: | 2013-10-30 |
发明(设计)人: | 胡勇海;代萌;林忠瑀;汪广羊 | 申请(专利权)人: | 无锡华润上华半导体有限公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L21/82 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 邓云鹏 |
地址: | 214028 江苏省无*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种静电释放保护结构,包括:衬底,具有第一导电类型;阱区,具有第二导电类型;衬底接触区,设于衬底内,具有第一导电类型;阱区接触区,设于阱区内,具有第二导电类型;衬底反掺杂区,位于衬底接触区和阱区接触区之间,具有第二导电类型;阱区反掺杂区,位于衬底接触区和阱区接触区之间,具有第一导电类型;连通区,设于衬底和阱区的横向交界处;第一隔离区,处于衬底反掺杂区和连通区之间;第二隔离区,处于阱区反掺杂区和连通区之间;氧化层,一端设于第一隔离区上,另一端设于衬底上;场板结构,设于氧化层上。本发明还涉及一种静电释放保护结构制造方法。本发明可通过调节场板结构的宽度和位置来调整开启电压。 | ||
搜索关键词: | 静电 释放 保护 结构 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种静电释放保护结构,其特征在于,包括:衬底,具有第一导电类型;阱区,设于所述衬底内,具有第二导电类型;衬底接触区,设于所述衬底内,具有所述第一导电类型;阱区接触区,设于所述阱区内,具有所述第二导电类型;衬底反掺杂区,设于所述衬底内,且位于所述衬底接触区和阱区接触区之间,具有所述第二导电类型;阱区反掺杂区,设于所述阱区内,且位于所述衬底接触区和阱区接触区之间,具有所述第一导电类型;连通区,设于所述衬底和阱区的横向交界处,且设于所述衬底反掺杂区和阱区反掺杂区之间,直接接触所述衬底和阱区;第一隔离区,设于所述衬底内,且处于所述衬底反掺杂区和连通区之间;第二隔离区,设于所述阱区内,且处于所述阱区反掺杂区和连通区之间;氧化层,靠近所述连通区设置,所述氧化层一端设于所述第一隔离区上,另一端设于所述衬底上;或所述氧化层一端设于所述第二隔离区上,另一端设于所述阱区上;所述氧化层不与所述连通区直接接触;场板结构,设于所述氧化层上。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的