[发明专利]一种消光比测量装置和方法有效
申请号: | 201210087411.X | 申请日: | 2012-03-29 |
公开(公告)号: | CN102607818A | 公开(公告)日: | 2012-07-25 |
发明(设计)人: | 胥嫏;魏婧 | 申请(专利权)人: | 成都优博创技术有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 泰和泰律师事务所 51219 | 代理人: | 曾祥坤;杨栩 |
地址: | 610041 四川省成都市高*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明首先通过现有的示波器与本发明的消光比测量装置对标准光模块进行测量,得到一一对应的差分电压和消光比的查找表;而后再利用消光比测量装置测量待测光模块,得到待测光模块的差分电压后,利用查找表得到相应的消光比;这样的消光比测量方法只需要在形成查找表的步骤中使用下示波器,后来的大规模生产过程只需要用到低成本的消光比测量装置,因此生产成本大大降低,有利于光模块生产厂商控制成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 测量 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种消光比测量装置,其特征在于:包括APD、TIA、电容、电压监测器和MCU;APD阳极与TIA输入端相连接,APD接收来自待测光模块的光信号,并将该光信号转换为电流信号;TIA正相输出端连接电容一端,TIA将电流信号转换为差分电压信号,并由电容对该差分电压信号进行保持;电容另一端连接电压监测器输入端,电压监测器输出端连接MCU,电压监测器监测差分电压信号的大小并将结果发送到MCU,由MCU按差分电压信号的大小根据查找表拟合出待测光模块的消光比大小。
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