[发明专利]分析检测食品中纳米二氧化钛的方法无效

专利信息
申请号: 201210069479.5 申请日: 2012-03-16
公开(公告)号: CN102608279A 公开(公告)日: 2012-07-25
发明(设计)人: 王海芳;陈欣欣;成斌;曹傲能;王琳;杨怡新 申请(专利权)人: 上海大学
主分类号: G01N33/02 分类号: G01N33/02
代理公司: 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 代理人: 陆聪明
地址: 200444*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种分析检测食品中纳米二氧化钛的方法,针对含有二氧化钛添加剂的典型食品样品,采用不同的前处理过程将二氧化钛溶出,利用离心使二氧化钛富集,使用有机溶剂清洗分离出的二氧化钛,然后通过透射电子显微镜观察和软件统计确定纳米二氧化钛的存在及粒径分布。同时对分离得到的纳米二氧化钛进行全面表征,利用扫描电子显微镜、X射线衍射仪、X射线能谱图等全面表征纳米颗粒的基本信息,利用电感耦合等离子体发射光谱仪测定二氧化钛的总含量,并结合粒径分布给出纳米颗粒的质量浓度数据。本发明分离操作简单,能高效地分离出食品中的纳米二氧化钛颗粒并适用于多种食品中纳米二氧化钛的检测,为纳米产品的标示和安全性评价提供基本数据。
搜索关键词: 分析 检测 食品 纳米 氧化 方法
【主权项】:
一种分析检测食品中纳米二氧化钛的方法,其特征在于,包括如下步骤:1)从食品样品中分离出纳米二氧化钛颗粒;2)对步骤1)分离出的二氧化钛颗粒进行消解,定容,利用电感耦合等离子体发射光谱仪测定钛元素含量,并换算出二氧化钛总量;3)然后,将步骤1)分离出的纳米二氧化钛颗粒利用透射电子显微镜观察颗粒形貌及粒径,通过软件统计二氧化钛颗粒的粒径分布,获得二氧化钛颗粒粒径分布数据;4)与步骤3)同时,对从步骤1)中获得的纳米二氧化钛进行定性和定量的全面表征,即为:ⅰ)将步骤1)分离出的二氧化钛颗粒利用扫描电子显微镜对其形貌、尺寸及表面进行表征;ⅱ)利用X射线衍射仪表征步骤1)分离出的纳米二氧化钛颗粒,得到其X射线衍射图谱,分析二氧化钛的晶型;ⅲ)利用高分辨率透射电子电镜确认步骤1)分离出的纳米二氧化钛的面间距和元素组成,即晶型与化学组成;ⅳ)结合步骤2)中得到的二氧化钛总含量和步骤3)中得到的二氧化钛颗粒粒径分布数据,得出纳米二氧化钛颗粒的质量浓度数据和颗粒数浓度数据。
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