[发明专利]瞬变电磁场的场均匀性的校准方法及系统无效
| 申请号： | 201210050607.1 | 申请日： | 2012-02-29 |
| 公开（公告）号： | CN102590642A | 公开（公告）日： | 2012-07-18 |
| 发明（设计）人： | 姚利军;沈涛 | 申请（专利权）人： | 北京无线电计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08 |
| 代理公司： | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人： | 王德桢 |
| 地址： | 100854 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种瞬变电磁场的场均匀性的校准方法及系统。该方法包括如下步骤：在待校准区域内选定一个参考点和多个测量点，参考点与多个测量点的位置不同；对每一个测量点，同时测量该测量点和参考点的电磁场，分别得到每一测量点的场强值和与该测量点相应的参考场强值；根据每一测量点的场强值和与该测量点相应的参考场强值计算该测量点的归一化场强值；根据所有测量点的归一化场强值得到待校准区域内瞬变电磁场的场均匀性。该系统包括示波器、第一探头和第二探头，第一探头和第二探头与示波器电连接。所述方法及系统对包括脉冲信号源在内的瞬变电磁场产生装置的要求低，能够快速、准确地对瞬变电磁场的场均匀性进行校准。 | ||
| 搜索关键词： | 变电 磁场 均匀 校准 方法 系统 | ||
【主权项】：
瞬变电磁场的场均匀性的校准方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：在待校准区域内选定一个参考点和多个测量点，所述参考点与所述多个测量点的位置不同；对每一个测量点，同时测量该测量点和所述参考点的电磁场，分别得到每一测量点的场强值和与该测量点相应的参考场强值；根据每一测量点的场强值和与该测量点相应的参考场强值计算该测量点的归一化场强值；根据所有测量点的归一化场强值得到所述待校准区域内瞬变电磁场的场均匀性。
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