[发明专利]一种应用于多频率三维测量的全局相位解相方法无效
申请号: | 201210048001.4 | 申请日: | 2012-02-29 |
公开(公告)号: | CN102589478A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | 宋丽梅;杨燕罡;董虓霄;张亮;陈昌曼 | 申请(专利权)人: | 天津工业大学 |
主分类号: | G01B11/25 | 分类号: | G01B11/25 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 300160*** | 国省代码: | 天津;12 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明属于三维机器视觉领域,涉及一种应用于多频率三维测量的全局相位解相方法。该方法通过投射3种周期分别为P1、P2和P3的正弦或者余弦规律变化的光信息,每种光信息需要经过4-8步相移,通过每个周期的相移图案,分别解算每个周期的相位值、两个周期的合成相位值以及三个周期的最终合成相位值。最后通过合成相位分别计算每个周期的全局相位值,进而通过三维重建获得物体的全貌三维坐标。本发明所设计的全局相位解相方法,优于传统的格雷码相位解相方法,可以有效的解决三维测量中被测物体表面颜色不一致的测量难题,无需喷涂显影剂,更加绿色环保。 | ||
搜索关键词: | 一种 应用于 频率 三维 测量 全局 相位 方法 | ||
【主权项】:
1.本发明所设计的全局相位解相方法,其特征是:对于图像中每一个点(x,y)的全局相位值的计算过程,工作步骤如下:步骤1:选取合适的P1、P2和P3的值,P1、P2和P3的取值均在0-LR之间,并且P1和P2的合成周期P12以及P2和P3的合成周期P23,以及P12和P23的合成周期P123,经过公式(1)的运算后,满足P123≥LR;P 12 = | P 1 × P 2 P 1 - P 2 | ]]>P 23 = | P 2 × P 3 P 2 - P 3 | ]]>P 123 = | P 12 × P 23 P 12 - P 23 | ]]> 公式(1)步骤2:利用光源投射装置,向物体投射周期为P1的相移图像,相移图像的步数应大于3步,最好为4-8步,采集每幅图像,并计算(x,y)在P1周期的相位
步骤3:利用光源投射装置,向物体投射周期为P2的相移图像,相移图像的步数应大于3步,最好为4-8步,采集每幅图像,并计算(x,y)在P2周期的相位
步骤4:利用光源投射装置,向物体投射周期为P3的相移图像,相移图像的步数应大于3步,最好为4-8步,采集每幅图像,并计算(x,y)在P3周期的相位
步骤5:利用(x,y)点的
和
计算在P12周期的合成相位
步骤6:利用(x,y)点的
和
计算在P23周期的合成相位
步骤7:利用(x,y)点的
和
计算在P123周期的最终合成相位
步骤8:对于在P1周期的每个点(x,y),利用其原始相位
按公式(2)计算其全局相位![]()
θ G - P 1 ( x , y ) = θ i - P 1 ( x , y ) + 2 π × M ( x , y ) ]]> 公式(2)其中:
为(x,y)点的原始相位;
为(x,y)点的全局相位;M(x,y):为(x,y)点所在的相位周期在全局相位中的编码值,该值的计算如公式(3)所示;M ( x , y ) = ( int ) ( θ P 123 ( x , y ) 2 π ) × ( | ( | P 1 × P 2 P 1 - P 2 | × | P 2 × P 3 P 2 - P 3 | | P 1 × P 2 P 1 - P 2 | - | P 2 × P 3 P 2 - P 3 | ) × P 1 - P 2 P 1 × P 2 | ) 2 + ( int ) ( θ P 12 ( x , y ) 2 π ) × ( | P 1 × P 2 ( P 1 - P 2 ) × P 1 | ) ]]> 公式(3)(x,y)点的全局相位
运算完毕。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津工业大学,未经天津工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210048001.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于COM聚集的受保护和虚拟接口
- 下一篇:一种轨迹球灵敏度调节方法