[发明专利]一种应用于多频率三维测量的全局相位解相方法无效

专利信息
申请号: 201210048001.4 申请日: 2012-02-29
公开(公告)号: CN102589478A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 宋丽梅;杨燕罡;董虓霄;张亮;陈昌曼 申请(专利权)人: 天津工业大学
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 300160*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明属于三维机器视觉领域,涉及一种应用于多频率三维测量的全局相位解相方法。该方法通过投射3种周期分别为P1、P2和P3的正弦或者余弦规律变化的光信息,每种光信息需要经过4-8步相移,通过每个周期的相移图案,分别解算每个周期的相位值、两个周期的合成相位值以及三个周期的最终合成相位值。最后通过合成相位分别计算每个周期的全局相位值,进而通过三维重建获得物体的全貌三维坐标。本发明所设计的全局相位解相方法,优于传统的格雷码相位解相方法,可以有效的解决三维测量中被测物体表面颜色不一致的测量难题,无需喷涂显影剂,更加绿色环保。
搜索关键词: 一种 应用于 频率 三维 测量 全局 相位 方法
【主权项】:
1.本发明所设计的全局相位解相方法,其特征是:对于图像中每一个点(x,y)的全局相位值的计算过程,工作步骤如下:步骤1:选取合适的P1、P2和P3的值,P1、P2和P3的取值均在0-LR之间,并且P1和P2的合成周期P12以及P2和P3的合成周期P23,以及P12和P23的合成周期P123,经过公式(1)的运算后,满足P123≥LRP12=|P1×P2P1-P2|]]>P23=|P2×P3P2-P3|]]>P123=|P12×P23P12-P23|]]>公式(1)步骤2:利用光源投射装置,向物体投射周期为P1的相移图像,相移图像的步数应大于3步,最好为4-8步,采集每幅图像,并计算(x,y)在P1周期的相位步骤3:利用光源投射装置,向物体投射周期为P2的相移图像,相移图像的步数应大于3步,最好为4-8步,采集每幅图像,并计算(x,y)在P2周期的相位步骤4:利用光源投射装置,向物体投射周期为P3的相移图像,相移图像的步数应大于3步,最好为4-8步,采集每幅图像,并计算(x,y)在P3周期的相位步骤5:利用(x,y)点的计算在P12周期的合成相位步骤6:利用(x,y)点的计算在P23周期的合成相位步骤7:利用(x,y)点的计算在P123周期的最终合成相位步骤8:对于在P1周期的每个点(x,y),利用其原始相位按公式(2)计算其全局相位θG-P1(x,y)=θi-P1(x,y)+2π×M(x,y)]]>公式(2)其中:为(x,y)点的原始相位;为(x,y)点的全局相位;M(x,y):为(x,y)点所在的相位周期在全局相位中的编码值,该值的计算如公式(3)所示;M(x,y)=(int)(θP123(x,y)2π)×(|(|P1×P2P1-P2|×|P2×P3P2-P3||P1×P2P1-P2|-|P2×P3P2-P3|)×P1-P2P1×P2|)2+(int)(θP12(x,y)2π)×(|P1×P2(P1-P2)×P1|)]]>公式(3)(x,y)点的全局相位运算完毕。
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