[发明专利]太阳能芯片电性检测装置与方法有效

专利信息
申请号: 201210039572.1 申请日: 2012-02-21
公开(公告)号: CN103163333A 公开(公告)日: 2013-06-19
发明(设计)人: 黎宇泰;施仁亲;陈震伟;李育贤;吴鸿森;卢冠伍 申请(专利权)人: 财团法人工业技术研究院
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R19/00;G01R31/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 宋焰琴
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开了一种太阳能芯片电性检测装置。该装置包括贴附于一太阳能芯片的一总线的一弹性金属片,此弹性金属片具有一开口;以及设置于此弹性金属片的一端的一导电装置,此导电装置经由此开口与此总线接触。将此电性检测装置贴附在位于此太阳能芯片的正面的总线,此弹性金属片与导电装置分别电性连接至与相连于此太阳能芯片的背面的电极的一测试元件,以使此弹性金属片、此测试元件、以及此背面的电极形成一电流测量回路,此导电装置、此测试元件、以及此背面的电极形成一电压测量回路。
搜索关键词: 太阳能 芯片 检测 装置 方法
【主权项】:
一种太阳能芯片电性检测装置,其特征在于,该电性检测装置包括:一弹性金属片,贴附于一太阳能芯片的一总线,该弹性金属片备有一开口;以及一导电装置,设置于该弹性金属片的一端,该导电装置经由该开口与该总线接触。
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