[发明专利]一种采用霍尔阵列的磁浮平面电机初始化位置检测方法有效

专利信息
申请号: 201210035750.3 申请日: 2012-02-17
公开(公告)号: CN103256882A 公开(公告)日: 2013-08-21
发明(设计)人: 丁少华;张志刚 申请(专利权)人: 上海微电子装备有限公司
主分类号: G01B7/00 分类号: G01B7/00;G01R33/07
代理公司: 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 代理人: 王光辉
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种采用霍尔阵列的磁浮平面电机初始化位置检测方法,其特征在于:若干霍尔元件沿XY向等间距分布形成井字形或正方形阵列,阵列中各传感器对所在位置Z向磁通密度分量进行测量。该阵列中沿XY向分布的传感器用于XY坐标系的位置测量,沿UV向分布的传感器用于UV坐标系的位置测量,所述XY坐标系为动子运动坐标系,所述UV坐标系为XY坐标系逆时针旋转45度后形成的坐标系。本方法使电机动子在XY坐标系和UV坐标下的位置测量得以实现。
搜索关键词: 一种 采用 霍尔 阵列 平面 电机 初始化 位置 检测 方法
【主权项】:
一种采用霍尔阵列的磁浮平面电机初始化位置检测方法,其特征在于,所述霍尔阵列同时适用于XY坐标系的位置测量和UV坐标系的位置测量,所述UV坐标系为XY坐标系逆时针旋转45度后形成的坐标系,包括:a、若干霍尔元件沿XY向等间距分布形成井字形或正方形阵列;b、X向或Y向的四个霍尔元件组成一个测量传感器;c、U向或V向的单个霍尔元件组成一个测量传感器;d、所述霍尔阵列安装在电机动子上,与永磁阵列平行,用于测量Z向的磁通密度;e、各测量传感器的信号经过电路处理采样后,送往微处理器进行计算,从而完成动子相对永磁阵列的位置测量。
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