[发明专利]按键寿命测试装置及按键寿命测试方法有效

专利信息
申请号: 201210008961.8 申请日: 2012-01-12
公开(公告)号: CN103207368B 公开(公告)日: 2017-06-27
发明(设计)人: 周通;王军;李丰荣 申请(专利权)人: 名硕电脑(苏州)有限公司;和硕联合科技股份有限公司
主分类号: G01R31/327 分类号: G01R31/327;G01M99/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司11227 代理人: 逯长明
地址: 215011 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了一种按键寿命测试装置,用于测试按键的按压寿命,包括马达、按压元件、按键感应单元以及控制器。马达能够沿相反的第一方向或第二方向转动。按压元件在马达的驱动下接近或远离按键。当按压元件按压按键直至按键电性连接按键感应单元时,按键感应单元产生第一反馈信号,当按压元件远离按键直至按键回弹至与按键感应单元电性分离时,按键感应单元产生第二反馈信号。当控制器接收到第一反馈信号时,控制器控制马达沿第二方向转动,当控制器接收到第二反馈信号时,控制器控制马达沿第一方向转动。本发明的按键寿命测试装置实现了按键压头按压行程的自动调节,确保按键在每次测试中均按压到位。本发明还提供了一种按键寿命测试方法。
搜索关键词: 按键 寿命 测试 装置 方法
【主权项】:
一种按键寿命测试装置,用于测试按键的按压寿命,其特征在于,包括:马达,能够沿相反的第一方向和第二方向转动;按压元件,连接于所述马达并位于所述按键的一侧,当所述马达沿所述第一方向转动时,所述按压元件在所述马达的驱动下接近所述按键,当所述马达沿所述第二方向转动时,所述按压元件在所述马达的驱动下远离所述按键;按键感应单元,位于所述按键的另一侧,当所述按压元件按压所述按键直至所述按键电性连接所述按键感应单元时,所述按键感应单元产生第一反馈信号,当所述按压元件远离所述按键直至所述按键回弹至与所述按键感应单元电性分离时,所述按键感应单元产生第二反馈信号;以及控制器,连接所述按键感应单元与所述马达,当所述控制器接收到所述第一反馈信号时,所述控制器控制所述马达沿所述第二方向转动,当所述控制器接收到所述第二反馈信号时,所述控制器控制所述马达沿所述第一方向转动。
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