[发明专利]按键寿命测试装置及按键寿命测试方法有效

专利信息
申请号: 201210008961.8 申请日: 2012-01-12
公开(公告)号: CN103207368B 公开(公告)日: 2017-06-27
发明(设计)人: 周通;王军;李丰荣 申请(专利权)人: 名硕电脑(苏州)有限公司;和硕联合科技股份有限公司
主分类号: G01R31/327 分类号: G01R31/327;G01M99/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司11227 代理人: 逯长明
地址: 215011 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 按键 寿命 测试 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种按键寿命测试装置,用于测试按键的按压寿命,其特征在于,包括:

马达,能够沿相反的第一方向和第二方向转动;

按压元件,连接于所述马达并位于所述按键的一侧,当所述马达沿所述第一方向转动时,所述按压元件在所述马达的驱动下接近所述按键,当所述马达沿所述第二方向转动时,所述按压元件在所述马达的驱动下远离所述按键;

按键感应单元,位于所述按键的另一侧,当所述按压元件按压所述按键直至所述按键电性连接所述按键感应单元时,所述按键感应单元产生第一反馈信号,当所述按压元件远离所述按键直至所述按键回弹至与所述按键感应单元电性分离时,所述按键感应单元产生第二反馈信号;以及

控制器,连接所述按键感应单元与所述马达,当所述控制器接收到所述第一反馈信号时,所述控制器控制所述马达沿所述第二方向转动,当所述控制器接收到所述第二反馈信号时,所述控制器控制所述马达沿所述第一方向转动。

2.根据权利要求1所述的按键寿命测试装置,其特征在于,所述按键寿命测试装置还包括传动单元,连接所述马达与所述按压元件。

3.根据权利要求2所述的按键寿命测试装置,其特征在于,所述传动单元包括支撑架、第一同步带轮、第二同步带轮、同步带和往复运动件,所述马达设置于所述支撑架上,所述第一同步带轮设置于所述马达的转轴上并跟随所述转轴转动,所述第二同步带轮设置于所述支撑架上,所述同步带缠绕于所述第一同步带轮与所述第二同步带轮,所述往复运动件设置于所述同步带上并连接于所述按压元件。

4.根据权利要求3所述的按键寿命测试装置,其特征在于,所述按键寿命测试装置还包括直线导轨,其设置于所述支撑架上,所述往复运动件可滑动地设置于所述直线导轨上。

5.根据权利要求3所述的按键寿命测试装置,其特征在于,所述按压元件螺纹连接于所述往复运动件。

6.根据权利要求1所述的按键寿命测试装置,其特征在于,所述按键感应单元为电路板,所述电路板具有对应所述按键设置的电性触点。

7.根据权利要求6所述的按键寿命测试装置,其特征在于,所述第一反馈信号为5伏特的电压信号,所述第二反馈信号为0伏特的电压信号。

8.根据权利要求1所述的按键寿命测试装置,其特征在于,所述控制器为可编程逻辑控制器。

9.根据权利要求1所述的按键寿命测试装置,其特征在于,所述按键寿命测试装置还包括计数器,连接于所述按键感应单元,以对产生的所述第一反馈信号进行计数。

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