[发明专利]按键寿命测试装置及按键寿命测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及按键寿命测试技术领域，更具体地说，涉及一种按键寿命测试装置及按键寿命测试方法。

背景技术

按键寿命测试装置可对计算机、计算器、键盘、开关等的按键做寿命测试，其具有速度可调，次数任意设定及同时测试数个产品(每个产品均可多点测试)，到达次数或掉电停机后仍可保存数据的优点。并且，针对每个按键可以设定不同压力及不同高度，因而可满足不同的测试要求。

在按键寿命测试装置中，通常用汽缸带动压头按压按键。在汽缸按键寿命测试装置中，汽缸与按键压头通过一定的结构连接在一起，通过汽缸的往复运动带动按键压头的往复运动，从而实现按压与回复按键，完成对按键的测试。如图1所示，图1为现有的按键寿命测试装置的工作流程图，当按键寿命测试装置处于初始状态时，汽缸处于回收状态，按键压头悬置，此时可将待测试的按键置于按键压头的下部，再启动按键寿命测试装置的启动开关。启动后，汽缸的磁性活塞伸出以进行下压动作，并带动按键压头进行下压。汽缸臂上设置有磁环感应开关，当汽缸的活塞带动按键压头下压按键至预设位置(正常状况下会电性连接下方电路板的位置)时，磁环感应开关感应到汽缸的活塞，据此，磁环感应开关控制按键寿命测试装置上的电磁阀进行切换，汽缸由下压动作切换为回收动作。延迟0.3s后，汽缸继续下一次的下压动作。如此往复，从而完成按键的寿命测试工作。

然而，在测试过程中，由于按键不断的被按下和回复，导致用来实现按键本体回弹的弹性元件会产生一定程度的磨损。由于按键压头的行程为预设值，导致按键压头的下压行程不能补偿弹性元件的磨损值，使按键出现未被按压到位，即尚未与下方电路板电性连接的现象，从而发生误判的情形。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种按键寿命测试装置及其按键寿命测试方法，实现了按键压头按压行程的自动调节，确保按键在每次测试中均按压到位。

为了达到上述目的，本发明提供如下技术方案：

本发明提供的按键寿命测试装置，用于测试按键的按压寿命，其包括马达、按压元件、按键感应单元以及控制器。马达能够沿相反的第一方向或第二方向转动。按压元件连接于马达并位于按键的一侧，当马达沿第一方向转动时，按压元件在马达的驱动下接近按键，当马达沿第二方向转动时，按压元件在马达的驱动下远离按键。按键感应单元位于按键的另一侧，当按压元件按压按键直至按键电性连接按键感应单元时，按键感应单元产生第一反馈信号，当按压元件远离按键直至按键回弹至与按键感应单元电性分离时，按键感应单元产生第二反馈信号。控制器连接按键感应单元与马达，当控制器接收到第一反馈信号时，控制器控制马达沿第二方向转动，当控制器接收到第二反馈信号时，控制器控制马达沿第一方向转动。

在本发明的一实施例中，按键寿命测试装置还包括传动单元，连接马达与按压元件。

在本发明的一实施例中，传动单元包括支撑架、第一同步带轮、第二同步带轮、同步带和往复运动件。马达设置于支撑架上，第一同步带轮设置于马达的转轴上并跟随转轴转动，第二同步带轮设置于支撑架上，同步带缠绕于第一同步带轮与第二同步带轮，往复运动件设置于同步带上并连接于按压元件。

在本发明的一实施例中，按键寿命测试装置还包括直线导轨，其设置于支撑架上，往复运动件可滑动地设置于直线导轨上。

在本发明的一实施例中，按压元件螺纹连接于往复运动件。

在本发明的一实施例中，按键感应单元为电路板，电路板具有对应按键设置的电性触点。

在本发明的一实施例中，第一反馈信号为5伏特的电压信号，第二反馈信号为0伏特的电压信号。

在本发明的一实施例中，控制器为可编程逻辑控制器。

在本发明的一实施例中，按键寿命测试装置还包括计数器，连接于按键感应单元，以对产生的第一反馈信号进行计数。

本发明还提供了一种按键寿命测试方法，用于测试按键的按压寿命，其包括下述步骤。控制马达沿第一方向转动以驱动按压元件按压按键，直至按键电性连接按键感应单元；接收第一反馈信号；根据第一反馈信号控制马达沿第二方向转动以驱动按压元件远离按键，直至按键回弹至与按键感应单元电性分离；接收第二反馈信号；根据第二反馈信号控制马达沿第一方向转动。

本发明提供的按键寿命测试装置，在按键与按键感应单元电性连接时，控制器才会控制马达沿第二方向转动，使得按压元件远离按键。因此，可确保按键每次均可按压到位，避免因下方弹性元件磨损而产生误判的情形，提升了测试装置的可靠度。

附图说明