[发明专利]蚀刻方法及装置有效
申请号: | 201180046520.0 | 申请日: | 2011-09-22 |
公开(公告)号: | CN103155116A | 公开(公告)日: | 2013-06-12 |
发明(设计)人: | 功刀俊介;真弓聪 | 申请(专利权)人: | 积水化学工业株式会社 |
主分类号: | H01L21/3065 | 分类号: | H01L21/3065;H05H1/24 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 龚敏 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的目的在于将含硅物的蚀刻量的控制简化。在前处理工序中,从前处理喷嘴(42)吹出含有第二氧化性反应成分的处理流体,使其与被处理物(9)接触。接着,在蚀刻处理工序中,在利用移动装置(20)以横穿处理空间(39)内的方式使被处理物(9)移动的同时,将含有氟系反应成分和第一氧化性反应成分的处理气体供给至处理空间(39),使其与被处理物(9)接触。 | ||
搜索关键词: | 蚀刻 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种蚀刻方法,其特征在于,是在大气压附近的处理空间中使用含有氟系反应成分和第一氧化性反应成分的处理气体来蚀刻含硅物的蚀刻方法,包括:前处理工序,其是使含有第二氧化性反应成分的处理流体与含有所述含硅物的被处理物接触的工序,以及蚀刻处理工序,其是在所述前处理工序之后,在以横穿所述处理空间内的方式使所述被处理物相对于所述处理空间相对地移动的同时,将所述处理气体供给至所述处理空间或者在所述处理空间内生成所述处理气体的所述各反应成分的工序。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造