[实用新型]用于校准模拟集成电路的装置有效
| 申请号： | 201120151323.2 | 申请日： | 2011-05-13 |
| 公开（公告）号： | CN202153440U | 公开（公告）日： | 2012-02-29 |
| 发明（设计）人： | 宋振宇;陈利杰 | 申请（专利权）人： | 英特格灵芯片(天津)有限公司 |
| 主分类号： | G11C17/16 | 分类号： | G11C17/16;G11C17/18 |
| 代理公司： | 北京亿腾知识产权代理事务所 11309 | 代理人： | 陈霁 |
| 地址： | 300457 天津市开发区*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种集成电路，包括存储单元阵列、写操作逻辑控制单元以及双路数据选择器，其特征在于：存储单元阵列由一个或多个存储单元并联而成以存储校准信息；写操作逻辑控制单元接收测试数据信号并且控制将测试数据信号作为校准信息写入到存储单元阵列的操作；双路数据选择器选择存储单元中的校准信息或测试数据中的一个作为输出；其中，双路数据选择器先选通测试数据，当测试数据信号写入存储单元阵列后双路数据选择器选通校准信息。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 校准 模拟 集成电路 装置 | ||
【主权项】：
一种用于校准模拟集成电路的装置，包括存储单元阵列、写操作逻辑控制单元以及双路数据选择器，其特征在于：存储单元阵列由一个或多个存储单元并联而成以存储校准信息；写操作逻辑控制单元接收测试数据信号并且控制将测试数据信号作为所述校准信息写入到所述存储单元阵列的操作；双路数据选择器选择所述存储单元中的校准信息或所述测试数据中的一个作为输出；其中，双路数据选择器先选通测试数据，当测试数据信号写入存储单元阵列后双路数据选择器选通校准信息。
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