[实用新型]自动化数组芯片检测装置有效

专利信息
申请号: 201120124054.0 申请日: 2011-04-25
公开(公告)号: CN202083636U 公开(公告)日: 2011-12-21
发明(设计)人: 林绣茹;张惠人;熊思恺;吴昌翰 申请(专利权)人: 辅英科技大学附设医院
主分类号: G01N21/77 分类号: G01N21/77
代理公司: 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 代理人: 何为;袁颖华
地址: 中国台湾*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种自动化数组芯片检测装置包含设有待测物前处理区、纯化萃取区、反转录及标定反应区与数组芯片反应及显像区的承载机构,用以对承载机构进行摇晃的致动机构;用以对承载机构进行温度控制的温控机构;具有试剂置放区及磁珠置放区的试剂存放机构;可取用所需试剂于承载机构上并于承载机构中各区进行相关待测物操作、传送及反应后废液排放的抽取机构;配合磁珠对待测物进行分离纯化的磁场控制机构;撷取待测物与数组芯片完成反应及显像后影像处理的影像撷取机构;以及一作为各机构控制、反应影像分析及数据显示之操作机构。藉此,可以自动化机构进行待测物的检测操作,而达到快速检测以及精准度高的功效。
搜索关键词: 自动化 数组 芯片 检测 装置
【主权项】:
一种自动化数组芯片检测装置,其特征在于:包括有:承载机构,其端面至少设有待测物前处理区、纯化萃取区、反转录及标定反应区及数组芯片反应及显像区,以作为待测物检测时待测物及数组芯片的盛放及反应操作平台;致动机构,与承载机构连接,以于检测过程中对承载机构进行摇晃或震动;温控机构,与承载机构连接,以于检测过程中对承载机构进行温度的控制;试剂存放机构,包含有数个试剂置放区、及磁珠置放区,提供待测物于反应时所需的试剂;抽取机构,设于承载机构与试剂存放机构之间,可取用于所需的试剂于承载机构上,及待测物于承载机构中各区的传送,及待测物完成反应后所产生废液的排放;磁场控制机构,与承载机构连接,可配合磁珠置放区的磁珠对待测物进行纯化;影像撷取机构,与数组芯片反应及显像区对应,可撷取待测物与数组芯片进行反应及显像后的影像;以及操作机构,与承载机构、致动机构、温控机构、试剂存放机构、抽取机构、磁场控制机构、及影像撷取机构连接,可作为各机构运作时的控制、反应影像分析及数据显示。
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