[发明专利]消除阴离子干扰的测定铝量的铬天青分光光度法有效
| 申请号： | 201110444865.3 | 申请日： | 2011-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN102590105A | 公开（公告）日： | 2012-07-18 |
| 发明（设计）人： | 曾永青;曾常青;张志福;李慧琴 | 申请（专利权）人： | 广州市食品工业研究所有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31;G01N1/38;G01N1/44 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人： | 陈卫 |
| 地址： | 510663 广东省广州市广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种消除阴离子干扰的测定铝量的铬天青分光光度法，包括样品前处理和铬天青分光光度法测定样品中铝的含量两个步骤。试样经硝酸高氯酸消解，再用阳离子交换树脂去除磷酸根、高氯酸根等阴离子的干扰，用抗坏血酸掩蔽铁，在乙酸一乙酸钠缓冲溶液中，铝与铬天青S、溴化十六烷基三甲胺、乙醇形成络合物，借此进行光度法测定，通过标准曲线计算出铝的含量。本方法能有效去除阴离子对测定的干扰，操作简单、快捷，且准确度、精密度好。 | ||
| 搜索关键词： | 消除 阴离子 干扰 测定 天青 分光光度法 | ||
【主权项】：
一种消除阴离子干扰的测定铝量的铬天青分光光度法，其特征在于包括以下步骤：（1）样品前处理：样品经硝酸与高氯酸消解，再用阳离子交换树脂去除阴离子的干扰；（2）铬天青分光光度法测定样品中铝的含量。
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