[发明专利]嵌入式测试系统无效
| 申请号： | 201110404920.6 | 申请日： | 2011-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN102495314A | 公开（公告）日： | 2012-06-13 |
| 发明（设计）人： | 诸荩锋 | 申请（专利权）人： | 苏州工业园区河洛科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215028 江苏省苏州市苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种嵌入式测试系统，包括嵌入式中央处理器、与嵌入式中央处理器相连的测量模块、与嵌入式中央处理器相连的显示模块、与嵌入式中央处理器相连的存储模块、与嵌入式中央处理器相连的控制模块、为嵌入式中央处理器提供电源的电源模块。本发明中集成了各种测量功能于一身，集成度高，体积小，不需要专门的PC控制器及外接测量设备，使用方便，相比传统的测量设备而言节省了测试资源，成本低，适用适用于大规模电子产品测试。 | ||
| 搜索关键词： | 嵌入式 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种嵌入式测试系统，包括嵌入式中央处理器、与嵌入式中央处理器相连的测量模块、与嵌入式中央处理器相连的显示模块、与嵌入式中央处理器相连的存储模块、与嵌入式中央处理器相连的控制模块、为嵌入式中央处理器提供电源的电源模块。
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