[发明专利]嵌入式测试系统无效
申请号: | 201110404920.6 | 申请日: | 2011-12-08 |
公开(公告)号: | CN102495314A | 公开(公告)日: | 2012-06-13 |
发明(设计)人: | 诸荩锋 | 申请(专利权)人: | 苏州工业园区河洛科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R31/28 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215028 江苏省苏州市苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 嵌入式 测试 系统 | ||
1.一种嵌入式测试系统,包括嵌入式中央处理器、与嵌入式中央处理器相连的测量模块、与嵌入式中央处理器相连的显示模块、与嵌入式中央处理器相连的存储模块、与嵌入式中央处理器相连的控制模块、为嵌入式中央处理器提供电源的电源模块。
2.根据权利要求1所述的嵌入式测试系统,其特征在于:还包括与嵌入式中央处理器相连的联网处理模块、与嵌入式中央处理器相连的RS232数据处理模块。
3.根据权利要求2所述的嵌入式测试系统,其特征在于:所述测量模块包括数字万用表测量模块、计数器测量模块、波形发生器测量模块,所述数字万用表测量模块、计数器测量模块和波形发生器测量模块分别与嵌入式中央处理器相连接。
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