[发明专利]一种制作磷化铟单片微波集成电路的方法有效
申请号: | 201110375016.7 | 申请日: | 2011-11-23 |
公开(公告)号: | CN102509721A | 公开(公告)日: | 2012-06-20 |
发明(设计)人: | 汪宁;王显泰;苏永波;郭建楠;金智 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | H01L21/8252 | 分类号: | H01L21/8252;H01L21/02;H01L21/768 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周国城 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种制作磷化铟单片微波集成电路的方法,包括:在InP衬底正面的外延层上制作MMIC电路;涂敷光刻胶层保护该MMIC电路,形成InP基片;将该InP基片、蓝宝石双面抛光片和磨花玻璃基板采用石蜡黏合,形成5层叠层结构;对该5层叠层结构中InP基片的背面进行研磨减薄和抛光;在该InP基片背面的抛光面上制作Ni掩膜层;采用HF酸腐蚀去除部分Ni掩膜层;用HBr气体从该InP基片背面进行刻蚀,刻穿InP衬底及衬底正面的外延层,直至外延层上的MMIC电路;在该Ni掩膜层上溅射Ti/Au起镀层;在该Ti/Au起镀层上电镀Au;超声剥离该Ti/Au起镀层之外的Au,得到背面金属结构;融化高温石蜡,分离该5层叠层结构中的蓝宝石双面抛光片。 | ||
搜索关键词: | 一种 制作 磷化 单片 微波集成电路 方法 | ||
【主权项】:
一种制作磷化铟单片微波集成电路的方法,该方法包括:步骤1:在InP衬底正面的外延层上制作MMIC电路;步骤2:在InP衬底正面的外延层及该MMIC电路之上涂敷光刻胶层保护该MMIC电路,形成InP基片;步骤3:将该InP基片、蓝宝石双面抛光片和磨花玻璃基板采用石蜡黏合,形成5层叠层结构;其中,该蓝宝石双面抛光片与该InP基片正面之间采用高温石蜡黏合,该蓝宝石双面抛光片与该磨花玻璃基板之间采用低温石蜡黏合;步骤4:对该5层叠层结构中InP基片的背面进行研磨减薄;步骤5:使用化学机械抛光对减薄后的该InP基片背面进行抛光;步骤6:融化低温石蜡,分离该5层叠层结构中的磨花玻璃基板;步骤7:采用溅射工艺,在该InP基片背面的抛光面上制作Ni掩膜层;步骤8:在该Ni掩膜层上涂敷光刻胶,并对该光刻胶进行光刻得到刻蚀图形;步骤9:以该刻蚀图形为掩模,采用HF酸腐蚀去除部分Ni掩膜层;步骤10:去除未腐蚀Ni掩膜层上的光刻胶,并采用ICP工艺,以未腐蚀Ni掩膜层为掩模,用HBr气体从该InP基片背面进行刻蚀,刻穿InP衬底及衬底正面的外延层,直至外延层上的MMIC电路;步骤11:在该Ni掩膜层上溅射Ti/Au起镀层;步骤12:在该Ti/Au起镀层上光刻电镀用图形;步骤13:在该Ti/Au起镀层上电镀Au;步骤14:超声剥离该Ti/Au起镀层之外的Au,得到背面金属结构;步骤15:融化高温石蜡,分离该5层叠层结构中的蓝宝石双面抛光片。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造