[发明专利]一种应用于相位噪声测量系统能力验证的传递装置无效
| 申请号： | 201110335328.5 | 申请日： | 2011-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN102435972A | 公开（公告）日： | 2012-05-02 |
| 发明（设计）人： | 阎栋梁;韩红;杨军;柳丹 | 申请（专利权）人： | 北京无线电计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人： | 王德桢 |
| 地址： | 100854 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种应用于相位噪声测量系统能力验证的传递装置，该装置包括：第一高稳晶振通过第一选通开关经第一倍频器、第一锁相环路、第一低噪声压控振荡器、第一隔离放大器、第二倍频器、第一梳状谱发生器、第一梳状滤波器、第一功率放大器和第一微波源连接至所述微波检相端口，所述第一隔离放大器还与所述第一锁相环路连接；第二高稳晶振通过第二选通开关经第二倍频器、第二锁相环路、第二低噪声压控振荡器、第二隔离放大器、第四倍频器、第二梳状谱发生器、第二梳状滤波器、第二功率放大器和第二微波源连接至所述微波检相端口，所述第二隔离放大器还与所述第二锁相环路连接。本发明对提高相位噪声测量的验证能力具有重要意义。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 应用于 相位 噪声 测量 系统 能力 验证 传递 装置 | ||
【主权项】：
一种应用于相位噪声测量系统能力验证的传递装置，所述相位噪声测量系统包括微波检相端口和射频检相端口，其特征在于，该装置包括：第一高稳晶振通过第一选通开关依次经第一倍频器、第一锁相环路、第一低噪声压控振荡器、第一隔离放大器、第二倍频器、第一梳状谱发生器、第一梳状滤波器、第一功率放大器和第一微波源连接至所述微波检相端口，所述第一隔离放大器还与所述第一锁相环路连接；第二高稳晶振通过第二选通开关依次经第三倍频器、第二锁相环路、第二低噪声压控振荡器、第二隔离放大器、第四倍频器、第二梳状谱发生器、第二梳状滤波器、第二功率放大器和第二微波源连接至所述微波检相端口，所述第二隔离放大器还与所述第二锁相环路连接；所述第一高稳晶振还通过所述第一选通开关经第一输出接口连接至所述射频检相端口；所述第一高稳晶振和所述相位噪声测量装置的压控输出端分别与压控输入接口连接；所述第二高稳晶振还通过所述第二选通开关经第二输出接口连接至所述射频检相端口。
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