[发明专利]单粒子脉冲宽度测量电路有效
申请号: | 201110319780.2 | 申请日: | 2011-10-20 |
公开(公告)号: | CN103063933A | 公开(公告)日: | 2013-04-24 |
发明(设计)人: | 宿晓慧;毕津顺 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | G01R29/02 | 分类号: | G01R29/02 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种单粒子脉冲宽度测量电路。该电路包括单粒子脉冲信号产生电路及至少一级测量电路;单粒子脉冲信号产生电路产生待测单粒子脉冲信号;由待测单粒子脉冲信号直接驱动的双稳态电路构成测量电路的第一级;从测量电路的第二级开始,每一级电路分别由脉冲衰减电路和双稳态电路构成;其中脉冲衰减电路的输入端与上一级电路中双稳态电路的信号输入端相连,脉冲衰减电路的输出端与本级电路中的双稳态电路的信号输入端相连;预设的一级或多级双稳态电路的输出端共同构成了测量电路的输出结果,该输出结果对应单粒子脉冲宽度。本发明的单粒子脉冲宽度测量电路,可以提高单粒子脉冲宽度的测量精度,降低设备成本。 | ||
搜索关键词: | 粒子 脉冲宽度 测量 电路 | ||
【主权项】:
一种单粒子脉冲宽度测量电路,其特征在于,包括:单粒子脉冲信号产生电路及至少一级测量电路;所述单粒子脉冲信号产生电路产生待测单粒子脉冲信号;由待测单粒子脉冲信号直接驱动的双稳态电路构成测量电路的第一级;从测量电路的第二级开始,每一级电路分别由脉冲衰减电路和双稳态电路构成;其中脉冲衰减电路的输入端与上一级电路中双稳态电路的信号输入端相连,脉冲衰减电路的输出端与本级电路中的双稳态电路的信号输入端相连;预设的一级或多级双稳态电路的输出端共同构成了测量电路的输出结果,该输出结果对应所述单粒子脉冲宽度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所,未经中国科学院微电子研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110319780.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。