[发明专利]测试集成电路的自适应测试序列有效
| 申请号： | 201110317892.4 | 申请日： | 2011-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN102692569A | 公开（公告）日： | 2012-09-26 |
| 发明（设计）人： | 陈俊晟;林鸿志;王敏哲;陈颢;彭经能 | 申请（专利权）人： | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京德恒律师事务所 11306 | 代理人： | 陆鑫;高雪琴 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种涉及测试集成电路的自适应测试序列方法包括：彼此相同并且包括集成电路的第一器件和第二器件。根据第一器件的第一测试序列实施第一器件的测试，其中，第一测试序列包括多个排序测试项，并且其中，第一测试序列包括测试项。在测试具有与第一器件相同的结构的多个器件中基于没有通过测试项的频率计算测试项的测试优先级。然后，响应于测试项的测试优先级调节第一测试序列从而生成第二测试序列，其中，第二测试序列与第一测试序列不同。根据第二测试序列检测第二器件。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 集成电路 自适应 序列 | ||
【主权项】：
一种方法，包括：根据第一器件的第一测试序列测试包含集成电路的所述第一器件，其中，所述第一测试序列包括多个排序的测试项，并且其中，所述第一测试序列包括第一测试项；在测试具有与所述第一器件相同的结构的多个器件时，基于没有通过第一测试项的频率计算第一测试项的测试优先级；响应于第一测试项的测试优先级调节所述第一测试序列，以生成第二测试序列，其中，所述第二测试序列与所述第一测试序列不同；以及根据所述第二测试序列测试与所述第一器件相同的第二器件。
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