[发明专利]高精度激光吸收率测量装置有效
申请号: | 201110311703.2 | 申请日: | 2011-10-14 |
公开(公告)号: | CN102435582A | 公开(公告)日: | 2012-05-02 |
发明(设计)人: | 高爱华;刘卫国;闫丽荣 | 申请(专利权)人: | 西安工业大学 |
主分类号: | G01N21/39 | 分类号: | G01N21/39;G01N21/01 |
代理公司: | 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 | 代理人: | 黄秦芳 |
地址: | 710032*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及材料的激光吸收及散射特性研究领域,具体涉及一种高精度激光吸收率测量装置。现有技术不能实现材料吸收率的高精度测量。为了解决现有技术存在的问题,本发明提供的技术方案是:一种高精度激光吸收测量装置,包括光学测量组件,所述光学测量组件包括激光光源、声光调制器、光束整形组件、透反镜、反射镜和积分球,其中激光光源、声光调制器、光束整形组件、透反镜和反射镜位于同一光路上,积分球上设置有处开孔,第一开孔处设置有导光管,导光管沿第一开孔与第二开孔的中心连线方向设置,第三开孔处设置有第一光电探测器。本发明实现了高吸收率的准确测量,精度高、测试方便且适用范围广。 | ||
搜索关键词: | 高精度 激光 吸收率 测量 装置 | ||
【主权项】:
一种高精度激光吸收测量装置,包括光学平台(20)、计算机(21)和控制组件,所述光学平台(20)上安装有光学平板(19),光学平板(19)上设置有光学测量组件,其特征在于:所述光学测量组件包括激光光源(1)、声光调制器(2)、光束整形组件(3)、透反镜(4)、反射镜(5)和积分球(7),其中激光光源(1)、声光调制器(2)、光束整形组件(3)、透反镜(4)和反射镜(5)位于同一光路上,积分球(7)上设置有3处开孔,分别是第一开孔(6)、第二开孔(9)和第三开孔(11),第一开孔(6)处设置有导光管(8),导光管(8)沿第一开孔(6)与第二开孔(9)的中心连线方向设置,第三开孔(11)处设置有第一光电探测器(12),所述反射镜(5)提供的入射光沿导光管(8)射入第二开孔(9)处放置的样品(10)上,入射角与镜面反射角之间的法线穿过积分球(7)的球心,入射角的设置原则是镜面反射光在积分球内并远离第一光电探测器(12)的光敏面,第一光电探测器(12)的前端设置有保护挡板(13),保护挡板(13)的表面与积分球内表面处理相同;所述控制组件包括第一锁相放大器(15)、第二锁相放大器(16)、同步数据采集单元(17)和波形发生器(18),计算机(21)控制波形发生器(18)输出方波信号,此方波信号用于声光调制器(2)的调制驱动,同时此方波信号被送至第一锁相放大器(15)和第二锁相放大器(16)中;透反镜(4)的反射光由其光路上设置的第二光电探测器(14)后转换成电信号,此电信号经第一锁相放大器(15)后输出去噪后的电压信号,该电压信号经同步数据采集单元(17)采集后送入计算机(21);所述第一光电探测器(12)输出电信号经第一锁相放大器(15)后输出去噪后的电压信号,该电压信号经同步数据采集单元(17)采集后送入计算机(21)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安工业大学,未经西安工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110311703.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。