[发明专利]光电元件及其制造方法无效

专利信息
申请号: 201110307537.9 申请日: 2011-10-08
公开(公告)号: CN103035756A 公开(公告)日: 2013-04-10
发明(设计)人: 周邦彦;任忠琦;袁文浩;杜彦良;黄久恭;邱俊宪;林作英;李卓澔 申请(专利权)人: 威奈联合科技股份有限公司
主分类号: H01L31/032 分类号: H01L31/032;H01L31/06;H01L31/18
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 代理人: 寿宁;张华辉
地址: 中国台湾高*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明是有关于一种光电元件,包含:一背电极;一透明前电极;一p-型半导体层,设于该背电极与该透明前电极之间,且由一第一半导体化合物所构成,该p-型半导体层具有一在其厚度方向上均匀的M1/M2原子比;及一n-型层结构,设于该p-型半导体层与该透明前电极之间,与该p-型半导体层共同形成一p-n接面,且具有一n-型半导体层。该n-型半导体层是由一第二半导体化合物所构成,且具有一在其厚度方向上均匀的M3/M4原子比。该M3/M4原子比大于0.1且小于0.9。
搜索关键词: 光电 元件 及其 制造 方法
【主权项】:
一种光电元件,其特征在于其包含:一背电极;一透明前电极;一p‑型半导体层,设于该背电极与该透明前电极之间,且由一第一半导体化合物所构成,该第一半导体化合物包括M1、M2及A1,该M1是选自于Cu、Au、Ag、Na、Li、K或此等的一组合,该M2是选自于In、Ga、Al、Ti、Zn、Cd、Sn、Mg或此等的一组合,及该A1是选自于S、Se、Te或此等的一组合,该p‑型半导体层具有一在其厚度方向上均匀的M1/M2原子比;及一n‑型层结构,设于该p‑型半导体层与该透明前电极之间,与该p‑型半导体层共同形成一p‑n接面,且具有一n‑型半导体层;该n‑型半导体层是由一第二半导体化合物所构成,该第二半导体化合物包括M3、M4及A2,该M3是选自于Cu、Au、Ag、Na、Li、K或此等的一组合,该M4是选自于In、Ga、Al、Ti、Zn、Cd、Sn、Mg或此等的一组合,及该A2是选自于S、Se、Te或此等的一组合,该n‑型半导体层具有一在其厚度方向上均匀的M3/M4原子比,该M3/M4原子比小于M1/M2原子比且大于0.1而小于0.9。
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