[发明专利]紫外传感增强膜变频效率的测试方法

摘要

一种紫外传感增强膜变频效率的测试方法，A)变频效率定义为薄膜表面发生波长转换的紫外光子数与入射到薄膜的紫外光子数之比：B)计算薄膜表面入射紫外修正光子数C)计算出立体角修正数SA＝2πr(1-cosθ)；D)计算出样品表面发生波长转换的紫外光子E)将Photons_emitted和Photons_incident代入公式(1)求得变频效率CE。本发明通过采用直接对功率进行测量的方式，省去了光电转换这一环节，有效的克服现有技术对紫外增强膜变频效率测试方法测量精度不高的弊端，本发明技术方案基于对准确性、操作性、稳定性等方面进行综合性技术考虑，所采用的测试方法，不仅大大减小了误差，有效提高了测量的准确性，而且操作方便，稳定性强。

主权项

一种紫外传感增强膜变频效率的测试方法，其特征在于：A)首先计算变频效率CE变频效率是反映荧光粉或荧光粉薄膜发光效率的一个物理量，定义为薄膜表面发生波长转换的紫外光子数与入射到薄膜的紫外光子数之比： CE = Photons emitted Photons incident - - - ( 1 ) CE表示为变频效率，Photonsemitted表示入射到薄膜表面的紫外光子数，Photonsincident表示薄膜表面发射出的可见光子数；B)计算薄膜表面入射紫外修正光子数Photonsincident Photons incident = P in × λ UV hc - - - ( 2 ) 其中Pin为光功率计示数，λUV为紫外光波长，h为普朗克常量，c为光速；C)计算出立体角修正数SA但是对于出射光子数，由于受激发射的光子具有各向同性特性，即发射光并不循着入射光的方向，而只是部分地进入光功率计，所以在计算薄膜表面发射出的可见光子数时，需要考虑未被光功率计测量到的那部分光子数，有很多未探测到的光子，故引入立体角修正因子SAcorrection SA correction = ∫ 0 θ 1 r sin θdθ ∫ 0 2 π dφ - - - ( 3 ) 其中θ为薄膜发光点发射光线中垂直于光功率计探测面的光线与被光功率计探测面边缘接收的光线的夹角，r为发射点光源到光功率计的距离，φ为方位角；经公式(3)计算，得到立体角修正数：SA＝2πr(1‑cosθ)    (4)D)计算出样品表面发生波长转换的紫外光子数Photonsemitted Photons emitted = P em × λ vis hc × SA × T - - - ( 5 ) 其中：Pem为光功率计测得的出射光功率，λvis为发射出的可见光波长，h为普朗克常量，c为光速，SA为薄膜表面发射点到光功率计测试面的立体角修正数，T为薄膜透过率；E)将Photonsemitted和Photonsincident代入公式(1)中求得变频效率CE。