[发明专利]一种电子设备的电磁环境影响因素的定量分析装置及方法有效

专利信息
申请号: 201110275729.6 申请日: 2011-09-17
公开(公告)号: CN102867104A 公开(公告)日: 2013-01-09
发明(设计)人: 柯宏发;陈永光;梁高波;唐跃平;夏斌;唐晓婧 申请(专利权)人: 中国人民解放军装备指挥技术学院
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00
代理公司: 洛阳市凯旋专利事务所 41112 代理人: 陆君
地址: 471003 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明涉及电磁干扰电子设备技术领域,公开一种电子设备的电磁环境影响因素的定量分析装置及方法,所述装置由影响因素数据接口装置及电子设备数据接口装置通过数据录取线缆与数据采集装置相连,数据采集装置通过数据录取线缆与影响因素主次关系定量分析装置相连;所述方法采用将影响因素数据接口装置、电子设备数据接口装置采集的信号源数据通过数据采集装置将上述传输至影响因素主次关系定量分析装置,进行电子设备的影响因素主次关系的定量分析,本发明能够实现对个影响因素的综合分析并对其主次关系进行搜索、判断和排序,预测或确定影响电子设备的相关电磁环境的主要因素,以便排除或减小电磁环境影响的主因素对电子设备性能进行的干扰。
搜索关键词: 一种 电子设备 电磁 环境 影响 因素 定量分析 装置 方法
【主权项】:
一种电子设备的电磁环境影响因素的定量分析装置,其特征在于:包括:数据采集装置、影响因素数据接口装置、电子设备数据接口装置、影响因素主次关系定量分析装置,所述影响因素数据接口装置及电子设备数据接口装置通过数据录取线缆与数据采集装置相连,数据采集装置通过数据录取线缆与影响因素主次关系定量分析装置相连;电子设备数据接口装置为信号源X1,影响因素数据接口装置为X2至XN。
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