[发明专利]存储设备的测试方法及系统在审
| 申请号： | 201110265039.2 | 申请日： | 2011-09-08 |
| 公开（公告）号： | CN103000228A | 公开（公告）日： | 2013-03-27 |
| 发明（设计）人： | 辛旻;王剑虎;王戎;李霞;程玉宝;胡兵;吴劲松 | 申请（专利权）人： | 上海宝信软件股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 王江富 |
| 地址： | 201203 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种存储设备的测试方法，首先，利用脚本语句构建性能测试平台；然后，通过所述性能测试平台，选取、设置测试项目，对存储设备进行测试。所述测试项目包括性能测试，在性能测试中，所述性能测试平台上运行的线程的并发数为存储设备中物理盘总数的一半；读写数据量为测试存储缓存的110％～130％；所述性能测试包括每秒读写操作测试和吞吐量测试，在每秒读写操作测试中，按照512Byte大小的数据块传输数据，在吞吐量测试中，按照1024K Byte大小的数据块传输数据。本发明还公开了一种存储设备的测试系统。本发明的存储设备的测试方法及系统，能够对各种存储设备进行全面、有针对性的测试，提高性能测试速度及准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 设备 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种存储设备的测试方法，其特征在于，首先，利用脚本语句构建性能测试平台；然后，通过所述性能测试平台，选取、设置测试项目，对存储设备进行测试。
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