[发明专利]一种光耦好坏的检测方法无效
| 申请号： | 201110245015.0 | 申请日： | 2011-08-25 |
| 公开（公告）号： | CN102411104A | 公开（公告）日： | 2012-04-11 |
| 发明（设计）人： | 闫武杰 | 申请（专利权）人： | 上海华碧检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 200433 上海市杨*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种光耦好坏的检测方法，包括以下步骤：A、将光耦的输入端与电阻R1和电源连接成完整回路，将光耦输出端与电阻R2和电源连接成完成回路；B、在光耦的输入端依次输入几种不同大小的电流，在光耦输出端输入脉动的直流信号；C、测出光耦的输入端输入几种不同电流时，对应光耦输出端输出的电压图形；D、根据输出端的电压图形判断出光耦的好坏。本发明有如下优点：本发明方法通过将光耦置于预设的电路中进行测量，操作方便快捷，同时可以方便判断出光耦输出端和输入端的电流大小关系，极大地提高了光耦好坏判断的工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 好坏 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种光耦好坏的检测方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：A、将光耦的输入端与电阻R1和电源连接成完整回路，将光耦输出端与电阻R2和电源连接成完成回路；B、在光耦的输入端依次输入几种不同大小的电流，在光耦输出端输入脉动的直流信号；C、测出光耦的输入端输入几种不同电流时，对应光耦输出端输出的电压图形；D、根据输出端的电压图形判断出光耦的好坏。
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