[发明专利]一种光耦好坏的检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及电子产品的实效分析领域，特别涉及一种光耦器件的好坏检测判断方法。

背景技术

在电路中经常用到光耦器件，这种器件在使用不当或其他因素导致器件失效时，对其好坏的测量非常重要，功能好坏的测量是失效分析的前提。

判断光耦好坏常用的方法是用两个万用表进行测量，基本思路是：用一个万用表给光耦的输入端提供电流，使光耦的发射部分正常工作，同时在输出部分用万用表测量电阻大小，以此来判断光耦的好坏。

此方法根据光耦的基本构成及原理进行测试，基本可以判断光耦的好坏，但在测量中不能判断光耦两端输入与输出之间的关系，并且操作不方便，耗费时间长，整体效率低。因此，如何快速进行判断光耦的好坏成为失效分析领域亟待解决的问题。

发明内容

为解决现有光耦好坏判断方法不能判断光耦两端输入与输出之间的关系，并且操作不方便，耗费时间长，整体效率低的问题，本发明提供以下技术方案：

一种光耦好坏的检测方法，包括以下步骤：

A、将光耦的输入端与电阻R1和电源连接成完整回路，将光耦输出端与电阻R2和电源连接成完成回路；

B、在光耦的输入端依次输入几种不同大小的电流，在光耦输出端输入脉动的直流信号；

C、测出光耦的输入端输入几种不同电流时，对应光耦输出端输出的电压图形；

D、根据输出端的电压图形判断出光耦的好坏。

作为本发明的一种优选方案，所述步骤A的光耦接入电路中，还可以将光耦输入端和输出端的两个电流输出脚连接到一起。

本发明有如下优点：本发明方法通过将光耦置于预设的电路中进行测量，操作方便快捷，同时可以方便判断出光耦输出端和输入端的电流大小关系，极大地提高了光耦好坏判断的工作效率。

附图说明

图1本发明检测方法用的电路原理图；

图2本发明检测方法电路的输出端输入的脉动信号示意图；

图3本发明检测方法光耦的另一种接入测试电路的方法原理图；

图4本发明检测方法检测到好的光耦输出端输出信号；

图5本发明检测方法检测到坏的光耦输出端输出信号。

具体实施方式

下面对该工艺实施例作详细阐述，以使本发明的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本发明的保护范围作出更为清楚明确的界定。

本实施例对一批样品光耦器件进行测量判断，具体操作步骤如下：

A、将光耦的输入端与电阻R1和电源连接成完整回路，将光耦输出端与电阻R2和电源连接成完成回路，完成如图1所示的电路连接，而光耦按图3的方式接入到电路中；

B、在光耦的输入部分AB端依次输入几种不同大小的电流，在光耦输出部分ED端输入如图2所示的脉动的直流信号；

C、测出光耦的输入端输入几种不同电流时，对应光耦输出端输出的电压图形；

D、根据输出端的电压图形判断出光耦的好坏。

当测试的光耦器件为良品光耦时，光耦输出端示意图如图4所示，当测试的光耦为不良品光耦时，光耦输出端示意图如图5所示，依此判断出光耦器件的好坏。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式之一，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本领域的技术人员在本发明所揭露的技术范围内，可不经过创造性劳动想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求书所限定的保护范围为准。